[發明專利]一種在磁場調控下測量功能表面滾動角的實驗裝置

在審

• 申請號: 201811377012.0
• 申請日: 2018-11-19
• 公開（公告）號: CN109282733A
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發明（設計）人: 劉明;彭志龍;姚寅;陳少華
• 申請（專利權）人: 北京理工大學
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 郭德忠;仇蕾安

1.一種在磁場調控下測量功能表面滾動角的實驗裝置，其特征在于，包括：支架組件、直柄滑塊組件、旋轉組件及磁鐵組件；

所述支架組件用于提供所述實驗裝置的安裝平臺，為直柄滑塊組件、旋轉組件、旋轉驅動組件及磁鐵組件提供安裝基座；

所述磁鐵組件用于給試驗件提供均勻或非均勻的磁場；

所述旋轉組件用于安裝試驗件及帶動試驗件和磁鐵組件在水平面的偏轉運動，以測量試驗件在水平面的偏轉運動方向的滾動角，且所述旋轉組件能夠驅動所述試驗件和磁鐵組件同時轉動或單獨驅動試驗件或磁鐵組件轉動；

所述直柄滑塊組件用于帶動試驗件在水平面的俯仰運動，以測量試驗件在水平面的俯仰方向的滾動角。

2.如權利要求1所述的一種在磁場調控下測量功能表面滾動角的實驗裝置，其特征在于，所述支架組件包括：底座(1)、支架座(39)、支撐塊(37)、左支架(54)、右支架(58)、長立桿(26)及短立桿(51)；

所述支架座(39)放置于固定在底座(1)上的支撐塊(37)上，左支架(54)和右支架(58)沿豎直方向平行固定在支架座(39)上表面左右兩端；長立桿(26)的底端固定在底座(1)上，短立桿(51)的底端固定在支架座(39)上，長立桿(26)的頂端與短立桿(51)的頂端通過銷軸銷接。

3.如權利要求2所述的一種在磁場調控下測量功能表面滾動角的實驗裝置，其特征在于，所述直柄滑塊組件包括：滑塊(8)、滑道(10)、第一絲杠(12)、絲杠驅動機構(33)、驅動塊(13)、方塊(15)、第一直銷(20)、圓頭直柄(21)、U型塊(23)及第二直銷(24)；

所述滑道(10)固定在底座(1)上，滑塊(8)套在滑道(10)上，與滑道(10)滑動配合，可沿滑道(10)的長度方向運動；驅動塊(13)固定在滑塊(8)上；方塊(15)固定在滑道(10)的末端；第一絲杠(12)的一端穿過驅動塊(13)后，與安裝在底座(1)上的絲杠驅動機構(33)連接，絲杠驅動機構(33)用于驅動第一絲杠(12)轉動；且第一絲杠(12)與驅動塊(13)中心孔的內螺紋螺紋配合，第一絲杠(12)的另一端通過軸承安裝在方塊(15)內；所述驅動塊(13)的頂面加工有半圓槽(19)；圓頭直柄(21)的一端通過第一直銷(20)安裝在半圓槽(19)內，另一端通過第二直銷(24)與倒置的U型塊(23)的兩個豎直部分銷接；U型塊(23)的水平部分上表面與支架座(39)的下表面固定連接。

4.如權利要求2所述的一種在磁場調控下測量功能表面滾動角的實驗裝置，其特征在于，所述旋轉組件包括：內桿(70)、套筒(65)、凸形塊(73)、第一螺桿(71)、第二螺桿(77)及第三螺桿(66)；

所述套筒(65)的兩端分別通過軸承安裝在左支架(54)和右支架(58)上，并分別伸出于左支架(54)和右支架(58)；內桿(70)通過軸承安裝在套筒(65)內，且內桿(70)的兩端分別伸出于套筒(65)的兩端；其中，內桿(70)的左支架(54)所在端端部設有用于安裝試驗件的矩形槽(69)，試驗件通過載玻片安裝在內桿(70)的矩形槽(69)上；

所述凸形塊(73)內分別加工有用于與套筒(65)及內桿(70)配合的階梯孔，凸形塊(73)穿過套筒(65)和內桿(70)的右支架(58)所在端端部后，固定在右支架(58)的環形凸臺(59)上；

所述第一螺桿(71)穿過凸形塊(73)及右支架(58)的環形凸臺(59)的圓周面后，與套筒(65)的外圓周面相對，且第一螺桿(71)與右支架(58)的環形凸臺(59)螺紋連接，當擰緊第一螺桿(71)時，第一螺桿(71)的末端抵觸在套筒(65)的外圓周面上，將套筒(65)與凸形塊(73)連接；

所述第二螺桿(77)穿過凸形塊(73)的圓周面后，與伸出于套筒(65)端部的內桿(70)的外圓周面相對，且第二螺桿(77)與凸形塊(73)螺紋連接，當擰緊第二螺桿(77)時，第二螺桿(77)的末端抵觸在內桿(70)的外圓周面上，將內桿(70)與凸形塊(73)連接；

所述第三螺桿(66)穿過套筒(65)的圓周面后，與套筒(65)內部的內桿(70)的外圓周面相對，且第三螺桿(66)與套筒(65)螺紋連接，當擰緊第三螺桿(66)時，第三螺桿(66)的末端抵觸在內桿(70)的外圓周面上，將內桿(70)與套筒(65)連接。