[發明專利]在機床上測量的方法以及相應的機床設備

有效

• 申請號: 201811375373.1
• 申請日: 2013-04-16
• 公開（公告）號: CN110076630B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 邁克爾·伍爾德里奇;保羅·穆爾;約翰·奧爾德
• 申請（專利權）人: 瑞尼斯豪公司
• 主分類號: B23Q17/20
• 分類號: B23Q17/20
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 謝攀;劉繼富

1.一種應用安裝在機床上的接觸式模擬探針掃描物體以便沿著所述物體的表面上的名義測量線收集掃描測量數據的方法，所述接觸式模擬探針包括用于接觸物體的可偏轉觸針，所述模擬探針具有優選測量范圍，所述方法包括：

根據預定的相對運動路線控制所述接觸式模擬探針和/或物體以便執行掃描操作，所述預定的相對運動路線被構造成使得所述接觸式模擬探針的優選測量范圍沿著所述名義測量線橫越穿過所述物體多次，其中，所述接觸式模擬探針的優選測量范圍相對于所述物體的表面的位置對于不同的橫越是不同的，以及

過濾由所述接觸式模擬探針獲得的數據，以便獲得選擇的掃描測量數據，其與主要從所述接觸式模擬探針的優選測量范圍之內或之外獲得的掃描測量數據相關。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，沿著所述名義測量線，所述接觸式模擬探針移出其優選測量范圍，以及獲得位于其優選測量范圍之內的數據。

3.根據權利要求1或2所述的方法，包括收集和輸出在所述接觸式模擬探針的優選測量范圍之內獲得的掃描測量數據，作為所述物體的測量值。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述收集和輸出包括將從所述接觸式模擬探針獲得的數據過濾，以便獲得從接觸式模擬探針的優選測量范圍之內獲得的選擇的物體測量數據，并作為所述物體的測量值提供。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，所述接觸式模擬探針以以下方式行進：基于物體的表面的假設特性，使得當所述接觸式模擬探針沿著所述名義測量線運動時，所述接觸式模擬探針的優選測量范圍的位置相對于所述物體的表面反復地升高和下降。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，當所述接觸式模擬探針運動時，保持它與所述物體的表面的位置感測關系，以便收集沿著所述名義測量線的數據。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，所述接觸式模擬探針的優選測量范圍相對于所述物體的表面的高度對于不同的橫越是不同的。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，對于不同的橫越，所述接觸式模擬探針沿著所述名義測量線對于所述物體的不同部分在其優選測量范圍內獲得測量數據。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，對于連續的橫越，所述優選測量范圍相對于所述表面所采取的路線的形式是相同的，但是對于不同的橫越，在沿著所述名義測量線的至少一個點處所述路線距離所述表面的高度是不同的。

10.根據權利要求1所述的方法，其中，對于連續的橫越，所述優選測量范圍相對于所述表面所采取的路線的形式是相同的，但是對于不同的橫越，沿著所述名義測量線的整個長度，所述路線距離所述表面的高度是不同的。

11.根據權利要求1所述的方法，其中，來自不同橫越的在所述優選測量范圍內獲得的表面測量數據被核對，以便形成測量數據組，所述測量數據組代表沿著所述名義測量線的物體的表面。

12.根據權利要求1所述的方法，其中，所述運動路線被構造成使得在連續的橫越之間，針對其在所述優選測量范圍內獲得測量數據的所述表面的部分重疊。

13.根據權利要求11所述的方法，其中，所述測量數據組代表沿著所述名義測量線的所述表面的連續長度。

14.根據權利要求11所述的方法，其中，所述測量數據組代表沿著所述名義測量線的整個長度的表面。

15.根據權利要求1所述的方法，包括：作為第二掃描操作的一部分，產生并執行所述模擬探針和物體的新的相對運動路線。