[發明專利]一種低溫膜分離裝置性能測試系統

在審

• 申請號: 201811373314.0
• 申請日: 2018-11-19
• 公開（公告）號: CN109351200A
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 王震;尹強
• 申請（專利權）人: 山東中塑泰富科技有限公司
• 主分類號: B01D65/10
• 分類號: B01D65/10;B01D53/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，包括氣體儲存罐（1）、膜分離器（7）、原料緩沖罐（5）、氣相色譜儀（10） 和中控模塊（11），所述氣體儲存罐（1）與膜分離器（7）連接，所述膜分離器（7）分別與所述原料緩沖罐（5）和氣相色譜儀（10）連接，所述氣相色譜儀（10）電性連接中控模塊（11），所述氣體儲存罐（1）進氣口和出氣口安裝壓力傳感器，壓力傳感器均連接壓力控制器（4），所述氣體儲存罐（1）出氣口上安裝開關裝置（2），所述開關裝置（2）的排氣口通過導流管連接膜分離器（7），且所述開關裝置（2）與膜分離器（7）之間安裝單向閥（3）。

2.根據權利要求1所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述膜分離器（7）外壁安裝制冷器（18），所述制冷器（18）與所述膜分離器（7）連接。

3.根據權利要求2所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述膜分離器（7）出氣口連接導流三通（8），所述導流三通（8）一端連接原料緩沖罐（5），所述原料緩沖罐（5）上也安裝壓力傳感器，壓力傳感器與所述壓力控制器（4）連接，所述原料緩沖罐（5）排氣口連接真空泵（6）。

4.根據權利要求3所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述導流三通（8）另外一端連接進樣器（9），所述進樣器（9）輸出端；連接氣相色譜儀（10）。

5.根據權利要求4所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述壓力控制器（4）輸出端與所述氣相色譜儀（10）輸出端均與中控模塊（11）連接，所述中控模塊（11）的設置能夠實現對所述壓力控制器（4）和氣相色譜儀（10）輸入的數據進行實時處理。

6.根據權利要求5所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述中控模塊（11）包括壓力源（12）、色譜儀數據源（13）、數據處理器（14）、數據儲存器（15）、反饋控制單元（16）和報警單元（17）。

7.根據權利要求6所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述壓力源（12）輸入端與所述壓力控制器（4）輸出端連接，所述色譜儀數據源（13）輸出端與所述氣相色譜儀（10）輸出端連接，所述壓力源（12）與色譜儀數據源（13）輸出端均勻所述數據處理器（14）輸入端連接，所述數據處理器（14）輸出端分別連接數據儲存器（15）和反饋控制單元（16），所述反饋控制單元（16）輸出端連接氣相色譜儀（10）和報警單元（17）。

8.根據權利要求2所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述膜分離器（7）內安裝溫度傳感器，溫度傳感器與所述制冷器（18）連接。

9.根據權利要求1-8任一所述的低溫膜分離裝置性能測試系統，其特征在于，所述導流管上設置流量控制計。