[發明專利]光學傳遞裝置雙準直零位夾角的標定系統及標定方法

有效

• 申請號: 201811365141.8
• 申請日: 2018-11-16
• 公開（公告）號: CN109374260B
• 公開（公告）日: 2023-09-01
• 發明（設計）人: 潘亮;張婷;趙建科;周艷;聶申;田留德;趙懷學;王濤;劉藝寧;萬偉;薛勛;李坤
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01B5/24
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 唐沛

本發明涉及一種光學傳遞裝置雙準直零位夾角的標定系統及標定方法。該系統不僅結構簡單且能夠高效的在高低溫條件下對光學傳遞裝置的雙準直零位夾角進行標定。該系統包括恒溫試驗箱內設置的電控轉臺、雙面反射鏡、二維調整臺以及恒溫試驗箱外設置的第一普羅棱鏡裝置、第一多齒分度臺、第二普羅棱鏡裝置、第二多齒分度臺、自準直經緯儀以及平面反射鏡。

技術領域

本發明屬光學領域，具體涉及一種光學傳遞裝置雙準直零位夾角的標定系統及標定方法。

背景技術

光學傳遞裝置作為一種光學儀器，目前廣泛應用于航天器發射領域，是該領域中的自動瞄準平臺的重要組成部分。光學傳遞裝置具有利用自準直光學原理來進行小角度測量的功能，可實現方位信息的瞄準和傳遞，并最終協助完成航天器發射的位置定向。

光學傳遞裝置屬于多光軸系統，主要由大、小兩個準直儀組成。大、小兩個準直儀的零位夾角即雙準直零位夾角是光學傳遞裝置最重要的性能指標，其標定準確與否會直接影響到最終的位置定向精度。

由于光學傳遞裝置應用于航天器發射領域，使用環境均在室外發射場，因此對其環境適應性也有著更高的要求。目前，光學傳遞裝置的工作溫度環境為-40℃～+50℃。在這樣的高低溫條件下，各元器件的工作狀態較常溫時會有所差異，勢必會導致高低溫條件下的雙準直零位夾角較常溫時存在偏差。顯然，在光學傳遞裝置出廠時，僅提供常溫條件下的雙準直零位夾角標定值意義不大。由此可見，高低溫條件下的雙準直零位夾角的準確標定是至關重要的。

常溫條件下的雙準直零位夾角的標定方法技術成熟，但在高低溫條件下，尤其是-40℃的低溫和+50℃的高溫，現今沒有任何測試儀器能夠在這樣極端的溫度條件下滿足該夾角標定的測試需求。換言之，目前高低溫條件下的雙準直零位夾角的準確標定是無法實現的，更沒有一種合理可行的技術方案或標定系統能解決此問題。因此，高低溫條件下的雙準直零位夾角的標定是一大難題。

鑒于以上原因，極其需要一種高低溫條件下的光學傳遞裝置雙準直零位夾角的標定系統。

發明內容

為了解決背景技術中存在的問題，本發明提供了一種結構簡單且能夠高效的在高低溫條件下對光學傳遞裝置雙準直零位夾角進行標定的標定系統及標定方法。

本發明的技術解決方案是：

本發明提供了一種光學傳遞裝置雙準直零位夾角的標定系統，其特殊之處在于：

包括計算機、恒溫試驗箱、電控轉臺、雙面反射鏡、二維調整臺、第一普羅棱鏡裝置、第一多齒分度臺、第二普羅棱鏡裝置、第二多齒分度臺、自準直經緯儀以及平面反射鏡；

恒溫試驗箱側壁上設有光學窗口；

恒溫試驗箱的內部安裝電控轉臺，電控轉臺上放置待測光學傳遞裝置，待測光學傳遞裝置頂蓋上安裝二維調整臺，二維調整臺上安裝雙平面反射鏡；

計算機分別與恒溫試驗箱、待測光學傳遞裝置電連接；

恒溫試驗箱的外部設有自準直經緯儀，自準直經緯儀的側方架設平面反射鏡；平面反射鏡口徑應覆蓋由待測光學傳遞裝置的小自準直儀中心至雙面反射鏡的中心之間間距；

第一普羅棱鏡裝置安裝在第一多齒分度臺上且第一普羅棱鏡裝置中棱鏡的中心高度與待測光學傳遞裝置中小自準直儀的中心高度一致；第一普羅棱鏡裝置位于自準直經緯儀和所述光學窗口之間；

第二普羅棱鏡裝置安裝在第二多齒分度臺上且第二普羅棱鏡裝置中棱鏡的中心高度與待測光學傳遞裝置中大自準直儀的中心高度一致；第二普羅棱鏡裝置位于自準直經緯儀和所述光學窗口之間。

進一步地，上述光學窗口采用石英制作，口徑不小于φ200mm，兩面均鍍有增透膜，可見積分透過率為90％以上；光學窗口外圈鋪設有加溫電阻絲，阻值為45Ω±10Ω。