[發(fā)明專利]一種基于形態(tài)學(xué)的目標(biāo)特征提取方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811360606.0
• 申請(qǐng)日: 2018-11-15
• 公開（公告）號(hào): CN109635815B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李忠國;馬旭;唐煒;王佳;盧道華;王琪;遲睿;許晨;吳昊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G06V10/44
• 分類號(hào): G06V10/44;G06V10/28;G06V10/34
• 代理公司: 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204
• 代理人: 唐紅

1.一種基于形態(tài)學(xué)的目標(biāo)邊緣特征提取方法，其特征在于：包括以下步驟：

(1)生成單一目標(biāo)圖像：將原圖像進(jìn)行二值化處理，并使目標(biāo)像素為1，背景像素為0，然后對(duì)處理后的二值化圖像進(jìn)行空洞填充，將面積最大的目標(biāo)圖像單獨(dú)保存為待分析圖像，并統(tǒng)一尺寸；

(2)計(jì)算該目標(biāo)圖像A₀的長短軸比值、復(fù)雜度、圖像目標(biāo)中心點(diǎn)C₀、邊緣距離中心點(diǎn)的距離的均值和方差；

(3)設(shè)定腐蝕運(yùn)算的結(jié)構(gòu)元素形狀、大小和腐蝕的次數(shù)：選取盤狀結(jié)構(gòu)元素，設(shè)定腐蝕的次數(shù)N，結(jié)構(gòu)元素的大小定為

(4)利用結(jié)構(gòu)元素對(duì)上述目標(biāo)圖像進(jìn)行N次腐蝕操作，N次腐蝕后的圖像則分別為A₁,A₂,…,A_N；

(5)利用每次腐蝕后的圖像計(jì)算目標(biāo)的特征：計(jì)算A₁，……，A_N的長軸和短軸的比值以及目標(biāo)復(fù)雜度；計(jì)算腐蝕后圖像A₁，……，A_N對(duì)應(yīng)的中心C₁，……，C_N相對(duì)于腐蝕前圖像A₀的中心C₀的偏移距離；利用中心線C₁－C₀和C₂－C₀，……C_N－C₀計(jì)算中心線的偏轉(zhuǎn)角度；計(jì)算腐蝕后圖像的邊緣點(diǎn)坐標(biāo)，計(jì)算邊緣點(diǎn)到中心C_j的距離，求取所有邊緣點(diǎn)到中心點(diǎn)距離的方差和均值；利用計(jì)算腐蝕掉部分的復(fù)雜度，其中s_j和L_j為第j次腐蝕后圖像的面積和周長。