[發(fā)明專利]復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811355694.5 | 申請日: | 2018-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN109556542B | 公開(公告)日: | 2020-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 高小松;孫利;楊耀東;馬寧;劉洋;李晶;榮健;呂海青 | 申請(專利權(quán))人: | 北京衛(wèi)星制造廠有限公司 |
| 主分類號: | G01B15/04 | 分類號: | G01B15/04 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 武瑩 |
| 地址: | 100190*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 復(fù)雜 點陣 鏤空 結(jié)構(gòu) ct 尺寸 測量方法 | ||
1.復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于包括如下步驟:
步驟1:對復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)進行CT掃描,獲得復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像;
步驟2:將CT圖像進行濾波降噪,逐級統(tǒng)計復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像灰度值的數(shù)值,擬合一條開口向上的曲線,取曲線波谷處的灰度值,并記為閾值ε;
步驟3:將復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像采用重疊的方式拆分成多個圖像塊,并將圖像塊按從上到下、從左到右的順序排成行,每一圖像塊內(nèi)部像素按從上到下、從左到右的順序排成列,構(gòu)成新的圖像矩陣φ;
步驟4:新的圖像矩陣φ中的每一個元素減去該元素所在列的平均值,實現(xiàn)新的圖像矩陣φ的歸一化,得到矩陣blocks;
步驟5:根據(jù)得到的閾值,利用K-SVD算法更新字典和稀疏模型解算原理,對矩陣blocks進行稀疏編碼和影像重構(gòu),再將重構(gòu)的blocks矩陣的每個列向量轉(zhuǎn)換為圖像塊,從而得到濾波后的CT圖像;
步驟6:利用形態(tài)學(xué)理論開運算制作背景圖像,然后將濾波后的CT圖像減去背景圖像;
步驟7:將CT圖像進行邊界提取,計算每個連通區(qū)域的中心坐標(biāo);
步驟8:將各個連通區(qū)域以各個連通區(qū)域中心為原點,以長半軸、短半軸、長軸旋轉(zhuǎn)角度、中心點X坐標(biāo)、中心點Y坐標(biāo),確定畫橢圓所需的6個參數(shù),并繪制橢圓,記錄橢圓邊線的(x,y)坐標(biāo),進而計算焦點坐標(biāo);
步驟9:判斷圖像各像素是否在橢圓內(nèi),如果像素在橢圓區(qū)域外,則舍去原始圖像中的像素,如果在橢圓區(qū)域內(nèi),則保留原始圖像中的像素,遍歷圖像所有像素;
步驟10:制作復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像邊界提取標(biāo)準(zhǔn)試件,采用三坐標(biāo)測量機對復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像邊界提取標(biāo)準(zhǔn)試件進行尺寸測量,獲得標(biāo)定值;
步驟11:對復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像邊界提取標(biāo)準(zhǔn)試件進行CT掃描,得到CT圖像,然后重復(fù)步驟2-步驟10,獲得CT圖像提取邊界的尺寸測量值,與標(biāo)定值作差,獲得尺寸測量誤差;
步驟12:對尺寸測量誤差進行校準(zhǔn),然后采用校準(zhǔn)后的CT圖像邊界提取方法對點陣鏤空結(jié)構(gòu)內(nèi)部輪廓尺寸進行測量,獲得復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)內(nèi)部輪廓尺寸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:通過采用微焦點CT設(shè)備或常規(guī)焦點CT設(shè)備,對所述的步驟1的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)進行CT掃描。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的步驟2中將CT圖像進行濾波降噪的方法為采用稀疏表示的圖像濾波方法。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的步驟3將復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT圖像采用重疊的方式拆分成的多個圖像塊為8×8大小。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的焦點坐標(biāo)的計算方法為:
(81)對于沿順時針旋轉(zhuǎn)角度較小的橢圓,首先計算橢圓的焦距c
式中,a代表橢圓的長半軸,b代表橢圓的短半軸;
(82)求解焦點坐標(biāo)包括
式中,α代表橢圓長軸與x軸的交角;
(83)對于沿順時針旋轉(zhuǎn)角度較大的橢圓,計算橢圓的焦距c
式中,a代表橢圓的長半軸,b代表橢圓的短半軸;
(84)求解焦點坐標(biāo)包括
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的判斷圖像各像素是否在橢圓內(nèi)的方法為:
若圖像中像素到橢圓焦點的距離大于長軸長,則在橢圓外,若等于長軸長,則在橢圓上,若小于長軸長,則在橢圓內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的對尺寸測量誤差進行校準(zhǔn)為采用雙校準(zhǔn)試塊尺寸校準(zhǔn)方法。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的步驟3中采用重疊的方式拆分成的圖像塊均代表一個64×1的列向量。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的復(fù)雜點陣鏤空結(jié)構(gòu)CT尺寸測量方法,其特征在于:所述的步驟5中將重構(gòu)的blocks矩陣的每個列向量轉(zhuǎn)換為圖像塊,從而得到濾波后的CT圖像的方法為:將重構(gòu)的blocks矩陣的每個64×1的列向量轉(zhuǎn)換為8×8的圖像塊,從而得到濾波后的CT圖像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京衛(wèi)星制造廠有限公司,未經(jīng)北京衛(wèi)星制造廠有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811355694.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





