[發明專利]一種圖像質量評價方法及裝置

有效

• 申請號: 201811352578.8
• 申請日: 2018-11-14
• 公開（公告）號: CN109523533B
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 朱柏濤
• 申請（專利權）人: 北京奇藝世紀科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李金;王寶筠

本發明提供一種圖像質量評價方法及裝置，在獲取待檢測圖像和待檢測圖像的參考圖像后，分別對待檢測圖像和參考圖像進行分解，得到待檢測圖像對應的具有不同分解層級的至少兩個第一圖像和參考圖像對應的具有不同分解層級的至少兩個第二圖像；對同一分解層級的第一圖像和第二圖像：確定該分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第一相似度以及第二相似度，根據每個分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第一相似度以及第二相似度，對待檢測圖像進行圖像質量評價，其中第一相似度和第二相似度基于處于同一分解層級的第一圖像和第二圖像之間的像素相關性得到，使得在對待檢測圖像進行圖像質量評價時考慮像素相關性的影響，由此提高圖像質量評價的準確度。

技術領域

本發明屬于圖像處理技術領域，更具體地說，尤其涉及一種圖像質量評價方法及裝置。

背景技術

圖像在壓縮、編碼和存儲等圖像處理過程中無可避免地會造成圖像質量的損壞，由此需要通過圖像質量評價方法來評價待檢測圖像(對原始圖像經過圖像處理后具有一定失真的圖像)的圖像質量，如評價待檢測圖像相對于原始圖像的失真程度。

目前圖像質量評價方法以原始圖像作為參考圖像，根據獲取到的參考圖像的信息量包括：全參考圖像質量評價(Full Reference Assessment)方法、半參考圖像質量評價(Reduced Reference Assessment)方法和無參考圖像質量評價(No ReferenceAssessment)方法。其中全參考圖像質量評價方法可以獲取到參考圖像的所有信息，以根據獲取到的參考圖像的所有信息，將待檢測圖像和參考圖像進行比較來評價待檢測圖像的圖像質量；半參考圖像質量評價方法可以獲取到參考圖像的部分信息，以根據獲取到的參考圖像的部分信息，將待檢測圖像和參考圖像進行比較來評價待檢測圖像的圖像質量；無參考圖像質量評價方法是在沒有獲取到參考圖像的任何信息，僅對待檢測圖像進行評價。

但是全參考圖像質量評價方法和半參考圖像質量評價方法都是通過比較參考圖像和待檢測圖像中各像素點之間的像素差異性，使得圖像質量評價的準確度受到一定限制。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種圖像質量評價方法及裝置，用于提高圖像質量評價的準確度。技術方案如下：

本發明提供一種圖像質量評價方法，所述方法包括：

獲取待檢測圖像和所述待檢測圖像的參考圖像；

對所述待檢測圖像和所述參考圖像分別進行分解，得到所述待檢測圖像對應的至少兩個第一圖像和所述參考圖像對應的至少兩個第二圖像，其中每個第一圖像對應不同分解層級，每個第二圖像對應不同分解層級，且對于任一第一圖像：該第一圖像與所有第二圖像中的一個第二圖像具有相同的分解層級；

對同一分解層級的第一圖像和第二圖像：確定該分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第一相似度以及確定該分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第二相似度，該第一相似度和該第二相似度基于該分解層級的第一圖像和第二圖像之間的像素相關性得到；

根據每個分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第一相似度以及每個分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第二相似度，對所述待檢測圖像進行圖像質量評價。

優選的，所述對同一分解層級的第一圖像和第二圖像：確定該分解層級的第一圖像和第二圖像之間的第一相似度包括：

對該分解層級的第一圖像和第二圖像分別進行分割，得到該分解層級的第一圖像的至少兩個圖像塊和該分解層級的第二圖像的至少兩個圖像塊；

確定該分解層級的第一圖像中的第i個圖像塊X_i和該分解層級的第二圖像中的第i個圖像塊X_i之間的相似度，i的取值為1至n，n為該分解層級的圖像塊的總數；