[發(fā)明專利]測定方法、裝置及測定設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811348834.6
• 申請日: 2018-11-13
• 公開（公告）號: CN109238662B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陸小松;張濤;蒲天發(fā)
• 申請（專利權(quán)）人: 寧波視睿迪光電有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王文紅

本申請實施例提供一種測定方法、裝置及測定設(shè)備，用于對顯示模組的光程不均勻度進(jìn)行測定，該方法包括：向顯示模組發(fā)送測試圖像信息，以使所述顯示模組中的顯示屏像素層根據(jù)所述測試圖像信息顯示對應(yīng)的交織點陣圖像；接收圖像采集設(shè)備采集并發(fā)送的所述交織點陣圖像經(jīng)所述光柵膜結(jié)構(gòu)層折射后呈現(xiàn)的條紋圖像；對所述條紋圖像進(jìn)行處理，根據(jù)處理結(jié)果獲得所述顯示模組的光程不均勻度。本申請?zhí)峁┑臏y定方案通過圖像采集及圖像分析這種非接觸、不破壞性的方式以得到顯示模組的光程不均勻度，實用性更強(qiáng)并且不受幅面尺寸的影響。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種測定方法、裝置及測定設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有裸眼3D顯示技術(shù)基于在平板顯示器件(LCD，LED，OLED等)上貼覆能起到分光作用的周期性光學(xué)微結(jié)構(gòu)陣列(膜材、板材襯底上的狹縫或柱透鏡，以下簡稱光柵膜)，配合特定的多視點圖像交織方法，而呈現(xiàn)出立體效果。

光柵膜周期性單元排列方向和顯示屏像素排列方向存在夾角，光柵膜切割、貼合的過程中這個角度存在一定的容許浮動工藝偏差，一般在0.1°的量級。而為了達(dá)到理想的3D效果，這個角度和視圖交織排列方向的角度偏差需要控制在0.005°的量級。這一背離需要在軟件上進(jìn)行修正，為此，一般采用生成紅綠點陣測試圖的方式，基于圖形只有與光柵膜角度吻合、節(jié)距符合透視關(guān)系時才能夠在特定距離白幕上呈現(xiàn)宏觀條紋的原理，通過改變測試圖生成規(guī)則中的方向余切、周期因子兩個變量的步長，得到條紋最清晰的一組參數(shù)，以作為3D軟件視圖交織排列的基本參數(shù)。

然而，上述方式只有在光柵膜均勻、平整地貼合于顯示屏像素之上時才適用，當(dāng)由于基材翹曲、膠層厚薄不均或應(yīng)力、收縮等原因而導(dǎo)致點陣交織測試圖經(jīng)光柵折射后在大范圍內(nèi)不能形成均勻等距平直的條紋的情況下，這時在整個允許范圍內(nèi)都無法找到合適的一組視圖合成參數(shù)以使在觀看距離的幕布上呈現(xiàn)清晰條紋，也就是參數(shù)標(biāo)定會失敗。同樣地，這樣的顯示器也難以呈現(xiàn)出理想的立體顯示效果，局部容易出現(xiàn)重影、波浪紋等現(xiàn)象。

為了找到產(chǎn)生不均勻的原因，形成品質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)，作為原材料和工藝過程控制的指標(biāo)衡量依據(jù)，需要對上述不均勻、不平整性進(jìn)行測定。常規(guī)的三維形貌測試方法，要么需要進(jìn)行剖切斷面掃描，要么無法實施于透明薄層，使得在測定過程復(fù)雜難以實現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請的目的在于，提供一種測定方法、裝置及測定設(shè)備以改善上述問題。

本申請實施例提供一種測定方法，用于對顯示模組的光程不均勻度進(jìn)行測定，應(yīng)用于測定設(shè)備，所述測定設(shè)備分別與所述顯示模組和圖像采集設(shè)備連接，所述顯示模組包括光柵膜結(jié)構(gòu)層和顯示屏像素層，所述方法包括：

向所述顯示模組發(fā)送測試圖像信息，以使所述顯示模組中的顯示屏像素層根據(jù)所述測試圖像信息顯示對應(yīng)的交織點陣圖像；

接收所述圖像采集設(shè)備采集并發(fā)送的所述交織點陣圖像經(jīng)所述光柵膜結(jié)構(gòu)層折射后呈現(xiàn)的條紋圖像；

對所述條紋圖像進(jìn)行處理，根據(jù)處理結(jié)果獲得所述顯示模組的光程不均勻度。

可選地，所述向所述顯示模組發(fā)送測試圖像信息的步驟之前，所述方法還包括：

確定測試圖像的交織方式，并根據(jù)所述交織方式設(shè)置光柵貼合參數(shù)；

根據(jù)所述光柵貼合參數(shù)得到對應(yīng)的測試圖像信息。

可選地，所述對所述條紋圖像進(jìn)行處理，根據(jù)處理結(jié)果獲得所述顯示模組的光程不均勻度的步驟，包括：

對所述條紋圖像進(jìn)行形態(tài)學(xué)處理；

計算經(jīng)過形態(tài)學(xué)處理之后的條紋圖像中的各點的二維梯度向量；

根據(jù)所述二維梯度向量獲得所述顯示模組的光程不均勻度。