[發明專利]一種用于CdTe太陽能電池穩定電性能參數的快速測試方法在審
| 申請號: | 201811347496.4 | 申請日: | 2018-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN109490781A | 公開(公告)日: | 2019-03-19 |
| 發明(設計)人: | 王大鵬;牛改宇;潘智林;黃勝源 | 申請(專利權)人: | 中山瑞科新能源有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/36 | 分類號: | G01R31/36 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 李旭亮 |
| 地址: | 528400 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電性能參數 光照 快速測試 保溫箱 取出 功率輸出狀態 電性能測試 層壓工藝 封裝工藝 加熱電池 檢測裝置 冷卻電池 性能檢測 光源 加熱 保溫 余熱 測量 電池 激活 消耗 | ||
本發明公開了一種用于CdTe太陽能電池穩定電性能參數的快速測試方法,包括以下步驟:A、加熱電池,B、光照電池,將步驟A中加熱完畢的CdTe太陽能電池取出并放進保溫箱中進行保溫和光照;C、冷卻電池,將光照完畢的CdTe太陽能電池取出并進行降溫;D、性能檢測,采用檢測裝置對降溫完畢的CdTe太陽能電池進行電性能測試。通過在保溫箱中增加光照的光源,并結合封裝工藝,有效利用層壓工藝提供的組件余熱,能夠快速的使CdTe太陽能電池激活,達到穩定的功率輸出狀態,測量時得到準確的電性能參數,同時有效降低對能量的消耗。
技術領域
本發明涉及太陽能電源生產領域,特別是一種可快速檢測CdTe太陽能電池穩定電性能參數的測試方法。
背景技術
眾所周知,CdTe太陽能電池在封裝后要測量其電性能參數,需要有強光長時間照射才能穩定,測量耗時比較長,嚴重影響了企業的生產效率,降低了企業的社會競爭力。
發明內容
為了解決上述問題,本發明的目的在于提供一種簡單,同時又可以快速檢測CdTe太陽能電池穩定電性能參數的測試方法。
本發明為解決其技術問題而采用的技術方案是:
一種用于CdTe太陽能電池穩定電性能參數的快速測試方法,包括以下步驟:
A、加熱電池,將待檢測的CdTe太陽能電池放置層壓機中,并通過所述層壓機對CdTe太陽能電池進行加熱;
B、光照電池,將步驟A中加熱完畢的CdTe太陽能電池取出并放進保溫箱中進行保溫,所述保溫箱中設置有能夠發光的光源,CdTe太陽能電池在保溫箱中進行保溫的過程中,光源通電發光并對CdTe太陽能電池進行光照;
C、冷卻電池,將步驟B中光照完畢的CdTe太陽能電池取出并進行降溫,使得CdTe太陽能電池的溫度降到室溫;
D、性能檢測,采用檢測裝置對步驟C中降溫完畢的CdTe太陽能電池進行電性能測試。
作為上述技術方案的改進,所述步驟A中,所述層壓機對CdTe太陽能電池進行加熱時的溫度為120-160℃,時間為10-16分鐘。
作為上述技術方案的進一步改進,所述步驟A中,所述層壓機對CdTe太陽能電池進行加熱時的溫度為140℃,時間為13分鐘。
在這里,所述步驟A中待檢測的CdTe太陽能電池的電池交聯度為70-90%。
優選地,所述步驟B中,光源通電發光并對CdTe太陽能電池進行光照的時間為100-200秒。
其中,所述步驟B中,光源通電發光并對CdTe太陽能電池進行光照的時間為150秒。
再進一步,所述步驟B中,所述保溫箱中設置的光源為LED芯片模塊。
在本發明中,所述LED芯片模塊的數量為24組,每個LED芯片模塊均配置有獨立的供電電源。
本發明的一優選實施例,24組LED芯片模塊分別設置于所述保溫箱內壁的不同位置處。
進一步,所述步驟C中,將步驟B中光照完畢的CdTe太陽能電池取出并放進冷卻箱中進行降溫。
本發明的有益效果是:由于本發明采用上述的檢測方法,通過在保溫箱中增加光照的光源,并結合封裝工藝,有效利用層壓工藝提供的組件余熱,能夠快速的使CdTe太陽能電池激活,達到穩定的功率輸出狀態,測量時得到準確的電性能參數,同時有效降低對能量的消耗。
具體實施方式
一種用于CdTe太陽能電池穩定電性能參數的快速測試方法,包括以下步驟:
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