[發明專利]粉塵儀自動校準裝置

在審

• 申請號: 201811347220.6
• 申請日: 2018-11-13
• 公開（公告）號: CN109357982A
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 龍光乾
• 申請（專利權）人: 重慶川儀分析儀器有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129
• 代理人: 呂小琴

本發明公開了一種粉塵儀自動校準裝置，包括接收探頭、校準單元以及從右向左依次設置的直準光源、分光棱鏡、第一智能調光玻璃和光陷阱；所述第一智能調光玻璃設置在所述分光棱鏡的主光軸上；所述校準單元包括反射鏡和模擬鏡，所述反射鏡設置在所述分光棱鏡的主光軸的垂線上，所述模擬鏡設置在所述反射鏡的右側；本申請利用智能調光玻璃及散射光模擬透鏡的方式來實現粉塵的自動校準；通過利用散射光模擬透鏡來真實地反映現場情況，通過改變智能調光玻璃的狀態對光源進行控制，可實現任時間段儀器的零點及量程自動校準。所述接收探頭設置在所述模擬鏡的右側，用于接收粉塵顆粒散射出的光信號或用于接收模擬鏡發射出的光信號。

技術領域

本發明涉及一種粉塵儀自動校準裝置。

背景技術

粉塵儀是檢測污染源中粉塵含量的設備，現有的粉塵儀多采用基于比爾朗博定律的光電檢測設備，其原理是通過檢測光穿過污染源，檢測光穿過帶有粉塵的污染源時，污染源中的粉塵會造成檢測光產生散射，通過檢測器接收散射光并分析散射光的能量數據，不太的能量數據對應唯一的粉塵含量值，通過換算即可得到污染源中的粉塵含量值。然而，在一段時間使用后，發出檢測光的光源會產生一定程度的衰減，光源發生改變后，光源發出的檢測光的能量也會相應的減弱，最終導致檢測器接收到的散射光能量變小，分析得到的粉塵含量相比于實際的粉塵含量偏低。

為了解決這個問題，現有的粉塵含量采用在檢測模塊內放置校準塊來對粉塵儀進行校準，其校準過程如下：首先排空檢測模塊內的污染源，保證檢測模塊內沒有粉塵，在檢測模塊內手動插入校準塊，校準塊實際是經過打磨的校準鏡片，當檢測光經過校準塊時，檢測光相應的產生散射，檢測器接收散射光得到散射光的能量，檢測器比較初始光源產生的散射光能量和校準時光源產生的散射光能量來得到光源的衰減比例，并根據兩次散射光能量的變化比例來調整散射光能量與污染源中粉塵含量的對應關系，從而完成校準。

但是目前的校準塊多采用電機驅動的方式來實現對光源方向的轉換，增加了系統復雜性，同時增添了故障源；并且各鏡片之間調試困難，不便于現場維護。

發明內容

本發明的目的是提供一種粉塵儀自動校準裝置，以解決現有粉塵儀自動校準裝置結構復雜、不便于現場調試的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供一種粉塵儀自動校準裝置，包括接收探頭、校準單元以及從右向左依次設置的直準光源、分光棱鏡、第一智能調光玻璃和光陷阱；

所述第一智能調光玻璃設置在所述分光棱鏡的主光軸上；

所述校準單元包括反射鏡和模擬鏡，所述反射鏡設置在所述分光棱鏡的主光軸的垂線上，所述模擬鏡設置在所述反射鏡的右側；

所述接收探頭設置在所述模擬鏡的右側，用于接收粉塵顆粒散射出的光信號或用于接收模擬鏡發射出的光信號。

進一步地，所述分光棱鏡為消偏振分光棱鏡。

進一步地，所述模擬鏡包括貼合在一起的第二智能調光玻璃和散射光模擬透鏡。

進一步地，所述光陷阱的內部呈蜂窩狀，光信號在其內部經反復折射后衰減。

本發明的有益效果為：本申請利用智能調光玻璃及散射光模擬透鏡的方式來實現粉塵的自動校準；通過利用散射光模擬透鏡來真實地反映現場情況，通過改變智能調光玻璃的狀態對光源進行控制，可實現任時間段儀器的零點及量程自動校準。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本申請的進一步理解，構成本申請的一部分，在這些附圖中使用相同的參考標號來表示相同或相似的部分，本申請的示意性實施例及其說明用于解釋本申請，并不構成對本申請的不當限定。在附圖中：

圖1為該低濃度粉塵儀處于工作狀態時的原理圖。

圖2為該低濃度粉塵儀處于校準狀態時的原理圖。