[發明專利]接觸電阻測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201811344934.1
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109188096B
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 鄭風雷;尹創榮;張遠健;陳冠豪;劉貫科;楊睿;周潮;夏云峰;黃健華;袁智斌;吳勛;張忠豪;巫偉中;王傳旭;邱秋輝;陳燦輝;陳華干
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司;廣東電網有限責任公司東莞供電局
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 唐維虎

1.一種接觸電阻測量方法，其特征在于，所述方法用于測量預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻，所述方法包括：

獲取滿足預設要求的接觸電阻變化率的兩種不同頻率的交流電流；

在預絞絲與地線接觸端口處加載基于所述兩種不同頻率的交流電流，分別測量所述預絞絲與地線接觸端口處的第一電壓和第二電壓；

根據所述第一電壓和所述第二電壓，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻；

其中，所述獲取滿足預設要求的接觸電阻變化率的兩種不同頻率的交流電流的步驟，包括：

任意選定第一交流電流的第一頻率，根據所述第一交流電流的第一頻率得到對應的第一趨膚深度；

根據所述第一交流電流的第一趨膚深度和預設要求的接觸電阻變化率，得到第二交流電流的第二趨膚深度及所述第二交流電流對應的第二頻率。

2.根據權利要求1所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述根據所述第一電壓和所述第二電壓，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻的步驟，包括：

分別根據所述第一電壓和所述第一交流電流、以及所述第二電壓和所述第二交流電流，分別計算得到對應的預絞絲與地線接觸端口處的第一阻抗和第二阻抗；

根據所述第一阻抗和所述第二阻抗，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻。

3.根據權利要求2所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述根據所述第一阻抗和所述第二阻抗，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻的步驟，包括：

根據所述第一阻抗和所述第二阻抗，計算得到預絞絲與地線接觸端口處的電感，其中，計算過程忽略接觸電阻變化率；

根據所述電感和所述第一阻抗，或所述電感和所述第二阻抗，計算得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻。

4.根據權利要求2所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述根據所述第一阻抗和所述第二阻抗，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻的步驟，包括：

根據所述第一阻抗和所述第二阻抗，計算得到預絞絲與地線接觸端口處的阻抗角，其中，計算過程忽略接觸電阻變化率；

根據所述阻抗角和所述第一阻抗，或所述阻抗角和所述第二阻抗，計算得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻。

5.根據權利要求1所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述預設要求的接觸電阻變化率是指所述接觸電阻變化率不大于百分之五。

6.根據權利要求1所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述第一頻率為高頻值，所述第二頻率為非高頻值。

7.根據權利要求1所述的接觸電阻測量方法，其特征在于，所述兩種不同頻率的交流電流的電流有效值相同。

8.一種接觸電阻測量裝置，其特征在于，包括：獲取模塊、測量模塊和處理模塊；

所述獲取模塊用于獲取滿足預設要求的接觸電阻變化率的兩種不同頻率的交流電流；

所述測量模塊用于在預絞絲與地線接觸端口處加載基于所述兩種不同頻率的交流電流，分別測量所述預絞絲與地線接觸端口處的第一電壓和第二電壓；

所述處理模塊用于根據所述第一電壓和所述第二電壓，得到預絞絲與地線接觸端口處的接觸電阻；

其中，所述獲取模塊，具體用于：

任意選定第一交流電流的第一頻率，根據所述第一交流電流的第一頻率得到對應的第一趨膚深度；根據所述第一交流電流的第一趨膚深度和預設要求的接觸電阻變化率，得到第二交流電流的第二趨膚深度及所述第二交流電流對應的第二頻率。

9.根據權利要求8所述的接觸電阻測量裝置，其特征在于，所述預設要求的接觸電阻變化率是指所述接觸電阻變化率不大于百分之五。