[發明專利]圖像壞點檢測、校正方法及裝置、存儲介質、攝像設備有效
| 申請號: | 201811342959.8 | 申請日: | 2018-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN111242884B | 公開(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發明(設計)人: | 張玉光;陳歡;魏道敏;吳佩媛 | 申請(專利權)人: | 展訊通信(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 張振軍;吳敏 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 檢測 校正 方法 裝置 存儲 介質 攝像 設備 | ||
1.一種圖像壞點檢測方法,其特征在于,包括:
獲取待檢測圖像,所述待檢測圖像為4cell格式圖像;
對所述待檢測圖像進行一級Haar小波分解,以得到低頻子帶和三個高頻子帶,所述待檢測圖像中的2×2大小的像素塊與低頻子帶以及三個高頻子帶中的點相對應;
根據所述三個高頻子帶中各個點處高頻系數的絕對值確定數值矩陣,所述數值矩陣的大小與所述三個高頻子帶的大小一致;
在所述數值矩陣上逐點移動滑動窗口,每次移動所述滑動窗口后,確定所述滑動窗口內的中心數值與其鄰域內最大數值的大小關系,并根據所述大小關系確定所述中心數值對應的所述待檢測圖像中的像素塊是否存在壞點,直至遍歷完成所述數值矩陣,所述中心數值為處于所述滑動窗口中心位置處的數值。
2.根據權利要求1所述的圖像壞點檢測方法,其特征在于,所述根據所述三個高頻子帶中各個點處高頻系數的絕對值確定數值矩陣包括:
確定所述三個高頻子帶中處于各個點處高頻系數的絕對值的最大值,以形成所述數值矩陣。
3.根據權利要求1所述的圖像壞點檢測方法,其特征在于,所述根據所述三個高頻子帶各個點處高頻系數的絕對值確定數值矩陣包括:
確定所述三個高頻子帶中處于各個點處高頻系數的絕對值之和,以形成所述數值矩陣。
4.根據權利要求1所述的圖像壞點檢測方法,其特征在于,所述根據所述大小關系確定所述中心數值對應的所述待檢測圖像中的像素塊是否存在壞點包括:
如果所述大小關系表示所述中心數值與其鄰域內最大數值的差值大于預設閾值,則判定所述中心數值對應的所述待檢測圖像中的像素塊存在壞點。
5.一種圖像壞點校正方法,其特征在于,包括:
確定待檢測圖像是否存在壞點,所述壞點是通過以下方式檢測得到的:獲取待檢測圖像,所述待檢測圖像為4cell格式圖像;對所述待檢測圖像進行一級Haar小波分解,以得到低頻子帶和三個高頻子帶,所述待檢測圖像中2×2大小的像素塊與低頻子帶以及三個高頻子帶中的點相對應;根據所述三個高頻子帶中各個點處高頻系數的絕對值確定數值矩陣,所述數值矩陣的大小與所述三個高頻子帶的大小一致;在所述數值矩陣上逐點移動滑動窗口,每次移動所述滑動窗口后,確定所述滑動窗口內的中心數值與其鄰域內最大數值的大小關系,并根據所述大小關系確定所述中心數值對應的所述待檢測圖像中的像素塊是否存在壞點,直至遍歷完成所述數值矩陣,所述中心數值為處于所述滑動窗口中心位置處的數值;
如果所述待檢測圖像存在壞點,則分別確定各個壞點對應的低頻子帶中的低頻系數和三個高頻子帶中的高頻系數;
對于每一壞點,按照預設滑動窗口大小,在低頻子帶中獲取以壞點對應的低頻系數為中心的采樣低頻子圖,在所述采樣低頻子圖上獲取與壞點對應的低頻系數具有相同顏色通道的鄰域低頻系數,并根據鄰域低頻系數對壞點對應的低頻系數進行校正,以得到校正后的低頻子帶;
對于每一壞點,按照預設滑動窗口大小,在高頻子帶中獲取以壞點對應的高頻系數為中心的采樣高頻子圖,在所述采樣高頻子圖上獲取與壞點對應的高頻系數具有相同顏色通道的鄰域高頻系數,并根據鄰域高頻系數對壞點對應的高頻系數進行校正,以得到校正后的高頻子帶;
根據所述校正后的低頻子帶和三個校正后的高頻子帶進行Haar小波重構,以得到校正后的待檢測圖像。
6.根據權利要求5所述的圖像壞點校正方法,其特征在于,所述根據鄰域低頻系數對壞點對應的低頻系數進行校正包括:
計算所述鄰域低頻系數的平均值或者中值替代壞點對應的低頻系數;
根據鄰域高頻系數對壞點對應的高頻系數進行校正包括:
計算所述鄰域高頻系數的平均值或者中值替代壞點對應的高頻系數。
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