[發明專利]測試方法、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 201811340252.3
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109493769B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 張一凡;李超
• 申請（專利權）人: 成都中電熊貓顯示科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

本發明提供一種測試方法、裝置和存儲介質，該方法包括：控制每個晶體管開關的柵極電壓在晶體管開關的第一開關周期的第一預設時間段內為第一電壓，源極電壓為第二電壓，以將像素塊在導通時的顯示亮度調整為第一亮度；控制每個晶體管開關的柵極電壓在第一開關周期的第二預設時間段內為第三電壓，在第三預設時間段內為第四電壓，在第四預設時間段內為第三電壓，源極電壓在第一開關周期的第五預設時間段內為第五電壓；第四電壓為能夠使得像素塊的橫向缺陷呈現第二亮度的電壓值，第二亮度的亮度值與第一亮度的亮度值的差值大于亮度閾值。本發明提供的測試方法使得面板中的缺陷在橫向和縱向方向上都顯示為亮線，便于檢出，提高了檢出效率。

技術領域

本發明涉及液晶顯示器制造技術領域，尤其涉及一種測試方法、裝置和存儲介質。

背景技術

液晶顯示器是一種平面、超薄的顯示設備。液晶顯示器的功耗很低，并且具有高畫質、體積小、重量輕的特點，因此倍受大家青睞，成為顯示器的主流。目前液晶顯示器是以薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)液晶顯示器為主，而一般薄膜晶體管液晶顯示器的制作可大致分為三部分：薄膜晶體管陣列(TFT Array)制備過程、彩色濾光板制備工程、液晶顯示單元組裝(LC Cell Assembly)制備過程和液晶顯示模塊(Liquid Crystal Module，LCM)制備過程。液晶面板在制作的過程中，需要進行多個檢驗程序，其中一個很重要檢驗程序就是對切割完成的液晶面板進行測試，確認液晶面板是否存在缺陷。該測試過程是對液晶面板輸入測試信號，使其像素呈現色彩，接著通過缺陷檢測裝置逐一觀察各個像素是否良好，此過程稱為點燈測試(Light-on Test)。

現有技術中，一般采用降低液晶面板每個像素塊的柵極電壓，檢測液晶面板中的S-GLeak(源極-柵極亮線)缺陷。

由于S-G Leak缺陷在面板的縱向和橫向方向上均存在缺陷；但現有技術中的方式液晶面板縱向方向上的缺陷呈現為亮線，在橫向方向上的缺陷呈現為黑線；在液晶面板呈現黑色的情況下，橫向方向上的黑線缺陷不易被檢出。

發明內容

本發明提供一種測試方法、裝置和存儲介質，使得面板中的缺陷在橫向和縱向方向上都顯示為亮線，便于檢出，提高了檢出效率。

本發明的第一方面提供一種測試方法，應用于測試面板，所述測試面板包括多個像素塊，每個所述像素塊對應一個晶體管開關，包括：

控制每個所述晶體管開關的柵極電壓在所述晶體管開關的第一開關周期的第一預設時間段內為第一電壓，控制每個所述晶體管開關的源極電壓在所述第一開關周期的第一預設時間段為第二電壓，以將每個所述晶體管開關對應的像素塊在導通時的顯示亮度調整為第一亮度，所述第一亮度的亮度值與所述第二電壓的電壓值正相關，所述第一電壓為所述晶體管開關的導通電壓；

控制每個所述晶體管開關的柵極電壓在所述第一開關周期的第二預設時間段內為第三電壓，在第三預設時間段內為第四電壓，在第四預設時間段內為所述第三電壓，并控制每個所述晶體管開關的源極電壓在所述第一開關周期的第五預設時間段內為第五電壓；所述第五預設時間段為所述第二預設時間段、所述第三預設時間段，以及，所述第四預設時間段的加和；所述第四電壓為能夠使得像素塊的橫向缺陷呈現第二亮度的電壓值，所述第二亮度的亮度值與所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度閾值；所述第三電壓為所述晶體管開關的關斷電壓，所述第五電壓不為0V；所述第一預設時間段、所述第二預設時間段、所述第三預設時間段，以及，所述第四預設時間段是按照時間的早晚順序依次進行的時間段；所述第一預設時間段、所述第二預設時間段、所述第三預設時間段，以及，所述第四預設時間段之和為所述晶體管開關的一個開關周期；

控制每個所述晶體管開關的公共線電壓在所述第一開關周期內為0V。

可選的，所述方法還包括：