[發明專利]同軸連接器轉接件的檢驗分料篩選設備

在審

• 申請號: 201811340226.0
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109290218A
• 公開（公告）日: 2019-02-01
• 發明（設計）人: 呂超
• 申請（專利權）人: 上海雷迪埃電子有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 李峰

1.一種同軸連接器轉接件的檢驗分料篩選設備，其特征在于，包括基座(1)，所述基座(1)上設有振動送料機構(2)、分度盤運送機構(3)和視覺檢測機構(4)；

所述分度盤運送機構(3)包括分度盤(31)，所述分度盤(31)上設有若干個沿周向布置的用于安裝轉接件(5)的分料孔(311)，所述振動送料機構(2)的出料端對著相應的分料孔(311)；

所述視覺檢測機構(4)包括至少一套用于檢測轉接件外觀的視覺檢測組件(41)，所述視覺檢測組件(41)與控制系統連接；

所述分度盤運送機構(3)還包括將檢測完畢的合格轉接件運送到分料盒(6)的第一導向機構、將分度盤(31)上的合格轉接件推入第一導向機構的第一推力機構，所述分度盤運送機構(3)還包括將檢測完畢的不合格轉接件運送到第一儲料盒(61)的第二導向機構、將分度盤(31)上的不合格轉接件推入第二導向機構的第二推力機構，所述第一推力機構和所述第二推力機構分別與所述控制系統連接。

2.根據權利要求1所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述振動送料機構(2)包括料倉振動機(21)、圓形振動機(22)和直線振動機(23)，所述圓形振動機(22)包括圓振本體(221)，所述圓振本體(221)的上方設有圓振盤體(222)，所述料倉振動機(21)的出料口位于所述圓振盤體(222)的上方，所述圓振盤體(222)的出料口與所述直線振動機(23)的直振軌道(231)連接，所述直振軌道(231)的出料口對著相應的分料孔(311)。

3.根據權利要求1所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述基座(1)上設有機架(11)，所述機架(11)上設有支撐架(12)，所述支撐架(12)上設有旋轉平臺(13)及驅動所述旋轉平臺(13)旋轉的第一伺服電機(14)，所述分度盤(31)安裝在所述旋轉平臺(13)上。

4.根據權利要求1所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述基座(1)上設有機架(11)，每套所述視覺檢測組件(41)包括相機、光源和鏡頭，所述視覺檢測組件(41)設有三套，分別為第一視覺檢測組件(411)、第二視覺檢測組件(412)和第三視覺檢測組件(413)，其中第一視覺檢測組件(411)和第二視覺檢測組件(412)分別布置在所述分度盤(31)的兩側，第三視覺檢測組件(413)位于所述分度盤(31)的下方或者上方。

5.根據權利要求4所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述第一視覺檢測組件(41)與所述振動送料機構(2)分別位于所述分度盤(31)的兩側；所述機架(11)上設有一直線運動機構(15)和滑塊(16)，所述滑塊(16)連接在所述直線運動機構(15)上，所述直線運動機構(15)可驅動所述滑塊(16)朝向或遠離所述分度盤(31)的方向運動，所述滑塊(16)上設有主支架(17)，所述第一視覺檢測組件(411)的相機、光源和鏡頭分別安裝在所述主支架(17)上。

6.根據權利要求1所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述機架(11)上靠近所述分度盤(31)的位置還設有第一固定架(171)，所述第一固定架(171)上設有第一安裝孔(1711)和第二安裝孔(1712)，所述第一導向機構包括連接在第一安裝孔(1711)上的第一導向管(32)，所述第二導向機構包括連接在第二安裝孔(1712)上的第二導向管(34)，所述第一儲料盒(61)位于所述第二導向管(34)出料口的下方。

7.根據權利要求5所述的檢驗分料篩選設備，其特征在于：所述主支架(17)上靠近所述分度盤(31)的一端還設有第一固定架(171)，所述第一固定架(171)上沿環向設有第一安裝孔(1711)和第二安裝孔(1712)，所述第一安裝孔(1711)和第二安裝孔(1712)分別對著相應的分料孔(311)，所述第一導向機構包括連接在第一安裝孔(1711)上的第一導向管(32)，所述第二導向機構包括連接在第二安裝孔(1712)上的第二導向管(34)，所述第一儲料盒(61)位于所述第二導向管(34)出料口的下方。