[發明專利]一種OLED器件光電及量子效率測試系統

有效

• 申請號: 201811334498.X
• 申請日: 2018-11-09
• 公開（公告）號: CN111175627B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 李軼文;劉嵩
• 申請（專利權）人: 固安鼎材科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 北京東方芊悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11591
• 代理人: 彭秀麗

1.一種OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，包括：測試平臺（1）、夾具（2）、積分半球（3）、光學傳導組件（4）和輻射照度測試設備（5），所述夾具（2）和積分半球（3）分別設置于所述測試平臺（1）的兩側面上，所述夾具（2）用于夾持測試OLED器件；所述積分半球（3）采用半球平面向上的方式設置，上部平面中央和底部半球頂點開有測試孔；在所述測試平臺（1）中心設有一通孔，所述通孔與所述積分半球（3）上部平面中央測試孔相對應；所述光學傳導組件（4）包括光纖（41）、鏡筒（42）和光學反光鏡（43），用于光信號的傳導；所述輻射照度測試設備（5）設置在所述積分半球（3）下方，用于光信號的采集；所述鏡筒（42）設置在所述積分半球（3）底部頂點測試孔和所述輻射照度測試設備（5）頂部之間，所述光學反光鏡（43）設置在所述鏡筒（42）的側壁上，可向所述鏡筒（42）內打開，用于控制光路的傳導；

當所述光學反光鏡（43）處于打開狀態時，通過所述光纖（41）向所述輻射照度測試設備（5）傳遞的光電測試光路打開，可進行光電測試；當所述光學反光鏡（43）處于關閉狀態時，通過所述光纖（41）向所述輻射照度測試設備（5）傳遞的光路關閉，通過所述積分半球（3）上測試孔的主光路導通，可進行量子效率測試；

在所述夾具（2）內設置金屬觸點，用于對測試樣品施加電流和電壓；在所述夾具（2）的底部設有通光孔；

在所述光學反光鏡（43）開合位置，所述鏡筒（42）與所述光纖（41）垂直連接。

2.根據權利要求1所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括用于帶動所述夾具（2）旋轉的旋轉機構（6）、用于帶動所述夾具（2）沿徑向移動的推送機構（7）和用于測試電壓/電流的提供，綜合光、電信息并進行數據處理的控制系統（8）；所述旋轉機構（6）和推送機構（7）設置在所述測試平臺（1）上；所述推送機構（7）包括傳遞夾（71）、傳遞槽（72）和龍門導軌（73）。

3.根據權利要求2所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述控制系統（8）包括恒壓恒流輸出源（81）、計算機（82）和觸控屏（83），所述恒壓恒流輸出源（81）與所述夾具（2）電性連接，用于提供穩定輸出電壓、電流并且將輸出信號實時傳遞至所述計算機（82）上的控制軟件，所述計算機（82）上的控制軟件用于提供觸控交互、測試參數設置以及機械運動控制，并能夠對測試數據進行運算和分析；所述觸控屏（83）用于控制界面的顯示和控制/采集測試參數的設定與查看。

4.根據權利要求2所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述旋轉機構（6）包括齒輪和電動機；所述測試平臺（1）的邊部開有槽孔，所述旋轉機構（6）設置在所述槽孔內；

所述測試平臺（1）上部設有環形旋轉轉盤（11），所述轉盤（11）邊部底側設有與所述旋轉機構（6）上的齒輪相嚙合的環形齒輪槽（111），所述旋轉機構（6）的齒輪穿過所述測試平臺（1）的槽孔與所述齒輪槽（111）嚙合，由所述旋轉機構（6）的齒輪旋轉方向和圈數確定所述轉盤（11）的旋轉方向和位置；

所述轉盤（11）的直徑大于所述積分半球（3）的直徑。

5.根據權利要求4所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述轉盤（11）上以同心圓的方式設有多個傳遞夾（71），所述夾具（2）設置在所述傳遞夾（71）上；

所述夾具（2）與所述傳遞夾（71）之間采用觸點接觸式連接。

6.根據權利要求5所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述轉盤（11）的內側設有定位盤（12）；在所述轉盤（11）和定位盤（12）上沿徑向設有傳遞槽（72），用于帶動所述傳遞夾（71）沿徑向移動。

7.根據權利要求6所述的OLED器件光電及量子效率測試系統，其特征在于，所述定位盤（12）的中心設有通光孔；所述傳遞槽（72）起點和終點與所述夾具（2）上通光孔對應的位置設有通光孔。