[發(fā)明專利]一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811333509.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111175682A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張志兵;吳法輝;薛磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安智盛銳芯半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R35/00 | 分類號(hào): | G01R35/00 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 閆家偉 |
| 地址: | 710075 陜西省西安市*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 電能 質(zhì)量 檢測(cè) 電路 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路,包括:第一電阻(R75)、第二電阻(R77)、第三電阻(R79)、第四電阻(R80)、第五電阻(R81)、第一電容(C81)、第二電容(C84)、第三電容(C85)、第四電容(C86)、第五電容(C87)、第六電容(C88)、調(diào)制芯片(U20)。本發(fā)明的用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路通過(guò)對(duì)采集的電能信號(hào)進(jìn)行濾波和相位調(diào)節(jié),從而消除干擾,實(shí)現(xiàn)同步采樣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電能質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域,具體涉及一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路。
背景技術(shù)
隨著社會(huì)的發(fā)展,電能質(zhì)量問(wèn)題越來(lái)越受到社會(huì)的關(guān)注,其原因不但與電力部門有關(guān),有的電能質(zhì)量指標(biāo)(例如諧波、電壓波動(dòng)和閃變、三相電壓不平衡度)往往是由用戶干擾引起的,牽涉發(fā)電方、供電方和用電方,關(guān)系到各方的利益。因此,為了切實(shí)維護(hù)電力部門和電力用戶的共同利益,保證電網(wǎng)的安全運(yùn)行,因此急需一種能夠進(jìn)行電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)與分析系統(tǒng),以便對(duì)電能質(zhì)量進(jìn)行準(zhǔn)確的檢測(cè)、評(píng)估和分類。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路。本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路,包括:
第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻、第一電容、第二電容、第三電容、第四電容、第五電容、第六電容、調(diào)制芯片;
所述調(diào)制芯片引腳8連接所述第三電容一端、所述第四電容一端、負(fù)電壓源端,所述第三電容另一端、所述第四電容另一端均接地;所述調(diào)制芯片引腳11連接所述第五電容一端、所述第六電容一端、正電壓源端,所述第五電容另一端、所述第六電容另一端均接地;所述調(diào)制芯片引腳9連接所述第五電阻一端、所述第二電容一端,所述第五電阻另一端連接DDS電路時(shí)鐘輸入端,所述第二電容另一端接地;所述調(diào)制芯片引腳17連接所述第三電阻一端、所述第一電容一端,所述第三電阻另一端連接DDS電路信號(hào)輸入端,所述第一電容另一端接地;所述調(diào)制芯片引腳19連接所述調(diào)制芯片引腳20和所述調(diào)制芯片引腳15;所述調(diào)制芯片引腳12連接所述第一電阻一端,所述第一電阻另一端連接所述調(diào)制芯片引腳13、所述第二電阻一端,所述第二電阻另一端連接所述調(diào)制芯片引腳14、所述第四電阻一端,所述第四電阻另一端接地;
其中,所述調(diào)制芯片的型號(hào)為AD630。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果:
本發(fā)明的用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路通過(guò)對(duì)采集的電能信號(hào)進(jìn)行濾波和相位調(diào)節(jié),從而消除干擾,實(shí)現(xiàn)同步采樣。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)的描述,但本發(fā)明的實(shí)施方式不限于此。
實(shí)施例一
請(qǐng)參見(jiàn)圖1,圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種用于電能質(zhì)量檢測(cè)儀的鑒相電路圖,包括:
第一電阻R75、第二電阻R77、第三電阻R79、第四電阻R80、第五電阻R81、第一電容C81、第二電容C84、第三電容C85、第四電容C86、第五電容C87、第六電容C88、調(diào)制芯片U20;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安智盛銳芯半導(dǎo)體科技有限公司,未經(jīng)西安智盛銳芯半導(dǎo)體科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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