[發(fā)明專利]一種紅外處理ADC電路性能比測方法

在審

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• 申請日: 2018-11-09
• 公開（公告）號(hào): CN109387777A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張廣偉;孫小亮;王凱;朱寅非
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽電光設(shè)備研究所
• 主分類號(hào): G01R31/3181
• 分類號(hào): G01R31/3181
• 代理公司: 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204
• 代理人: 王鮮凱

本發(fā)明涉及一種紅外處理ADC電路性能比測方法,使被測紅外處理ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)紅外處理ADC電路對同一信號(hào)源進(jìn)行采集，對比分析兩個(gè)被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，進(jìn)而客觀評價(jià)被測紅外處理ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)紅外處理ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)紅外處理ADC電路的優(yōu)劣。本發(fā)明方法可快速對比被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，客觀評價(jià)被測ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)ADC電路的優(yōu)劣。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于紅外探測器應(yīng)用領(lǐng)域，涉及一種紅外處理ADC電路性能比測方法。可快速對比被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，客觀評價(jià)被測ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)ADC電路的優(yōu)劣。

背景技術(shù)

由于紅外探測器輸出模擬電壓，需要經(jīng)ADC電路數(shù)字化后便于后續(xù)處理。ADC電路采樣效果的好壞影響著成像組件對微小和遠(yuǎn)距離目標(biāo)的探測能力。通過本發(fā)明，可快速對比被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，客觀評價(jià)被測ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)ADC電路的優(yōu)劣。具有很強(qiáng)的實(shí)用性。

發(fā)明內(nèi)容

要解決的技術(shù)問題

為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明提出一種紅外處理ADC電路性能比測方法

技術(shù)方案

一種紅外處理ADC電路性能比測方法，其特征在于步驟如下：

步驟1：以一塊性能指標(biāo)滿足使用要求的ADC電路作為標(biāo)準(zhǔn)ADC電路；

步驟2：根據(jù)需要選取某一ADC電路的性能指標(biāo)為敏感指標(biāo)；

步驟3：搭建該敏感指標(biāo)的測試環(huán)境；

步驟4：在一小時(shí)內(nèi)分別測試標(biāo)準(zhǔn)ADC電路和被測ADC電路的敏感指標(biāo)；

步驟5：若被測ADC電路的敏感指標(biāo)不低于標(biāo)準(zhǔn)ADC電路的敏感指標(biāo)，則該被測電路滿足使用要求。

所述步驟4：先測試被測ADC電路，后測試標(biāo)準(zhǔn)ADC電路；或先測試標(biāo)準(zhǔn)ADC電路，后測試被測ADC電路。兩次測試必須在同一時(shí)間、同一環(huán)境下完成測試，且中間間隔盡可能的短。為消除其他不可控因素，在測試環(huán)境搭建后，要求完成整個(gè)測試流程時(shí)間不大于1小時(shí)。

有益效果

本發(fā)明提出的一種紅外處理ADC電路性能比測方法,使被測紅外處理ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)紅外處理ADC電路對同一信號(hào)源進(jìn)行采集，對比分析兩個(gè)被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，進(jìn)而客觀評價(jià)被測紅外處理ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)紅外處理ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)紅外處理ADC電路的優(yōu)劣。

本發(fā)明方法可快速對比被測ADC電路與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路測試結(jié)果，客觀評價(jià)被測ADC電路性能與標(biāo)準(zhǔn)ADC電路之間的差異。該方法可快速評價(jià)ADC電路的優(yōu)劣。通過對比分析，篩選出性能指標(biāo)不低于標(biāo)準(zhǔn)紅外處理ADC電路的被測電路。具有很強(qiáng)的實(shí)用性。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的具體實(shí)現(xiàn)流程示意圖

具體實(shí)施方式

現(xiàn)結(jié)合實(shí)施例、附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步描述：

一種中波智能型640×512面陣F2探測器使用的ADC電路性能比測方法，其特征在于步驟如下：

步驟1：隨機(jī)選取一塊性能指標(biāo)滿足使用要求的中波智能型640×512面陣F2探測器使用的ADC電路作為標(biāo)準(zhǔn)ADC電路；

步驟2：根據(jù)需要選取該ADC電路的信噪比為敏感指標(biāo)；

步驟3：搭建紅外處理ADC電路信噪比測試環(huán)境；