[發明專利]基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法有效
| 申請號： | 201811331833.0 | 申請日： | 2018-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN109444712B | 公開（公告）日： | 2020-10-23 |
| 發明（設計）人： | 奚留華;張凱虹 | 申請（專利權）人： | 無錫中微騰芯電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G06K9/62 |
| 代理公司： | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷紅梅;屠志力 |
| 地址： | 214035 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 歸一法 結合 歐式 距離 函數 集成電路 數據 篩選 方法 | ||
1.一種基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟S1，將集成電路多工位測試數據的各參數值進行歸一化預處理；
步驟S2，將歸一化處理后的測試數據進行各工位測試數據的歐式距離計算，若某工位測試數據的歐式距離與所有工位測試數據歐式距離的平均值的偏差超過設定閾值，則認為該工位測試數據的誤差較大；
步驟S3，對于認定為測試數據誤差較大的工位，則將該工位測試數據的各參數進行歐式距離分析，若該工位某個參數的歐式距離與所有參數歐式距離的平均值的偏差超過設定閾值，則認為該參數測試有問題。
2.如權利要求1所述的基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，其特征在于，
歸一化預處理的計算公式為：
X*＝(X-Min)/(Max-Min) (1)
X*為歸一化預處理后的測試數據參數值；X為一個參數多次測試中的測試值，Max為該參數多個測試值中的最大值，Min為該參數多個測試值中的最小值。
3.如權利要求1所述的基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，其特征在于，
各工位測試數據的歐式距離的計算公式如下：
d12為工位的歐式距離，n為參數的數量，m為某工位一個參數測試值的數量，Xki為預處理后的參數歸一化值，Xkk′為Xki對應的經典值，經典值為芯片設計公司給定的規范值。
4.如權利要求1所述的基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，其特征在于，
各參數歐氏距離計算公式為：
m為某工位一個參數測試值的數量，Xki為預處理后的參數歸一化值，Xkk′為Xki對應的經典值。
5.如權利要求1所述的基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，
步驟S2中，各工位測試數據的歐式距離計算后，用直方圖展示。
6.如權利要求1所述的基于歸一法結合歐式距離函數的集成電路數據篩選方法，
步驟S3中，該工位測試數據的各參數進行歐式距離分析后，用直方圖展示。
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