[發明專利]控制圖管制線調整方法及裝置、可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201811322359.5
• 申請日: 2018-11-07
• 公開（公告）號: CN109492904A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 單劍鋒
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開一種控制圖管制線調整方法，該方法包括：選取包括多個數據點的預設管制區間；設定新的上管制界限和下管制界限；判斷所述多個數據點中超出所述上管制界限和下管制界限的比例是否小于預設值；如果判斷為小于預設值，則將控制圖的管制界限調整為所述上管制界限和下管制界限。本發明還公開一種控制圖管制線調整裝置及計算機可讀存儲介質。本發明可以自動判斷并更新管制界限，減少人力判斷，降低誤判風險。

技術領域

本發明涉及數據信息技術領域，尤其涉及一種控制圖管制線調整方法及裝置、可讀存儲介質。

背景技術

SPC(Statistical Process Control，統計過程控制)控制圖是對過程進行動態管制的工具，它可以對生產過程進行分析評價，根據反饋信息及時發現系統性因素出現的征兆，使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態，以達到控制質量的目的。

在生產過程控制時，系統定時抽取樣本，根據對樣本檢測所得出的質量特性值數據，在SPC控制圖上打點，點與點之間再用細實線連接起來就形成了一條折線。當數據點越出管制界限，則說明過程出現了異常。圖1是現有技術中一種SPC控制圖的形式，橫坐標是抽樣時間(對于管制用控制圖)或樣本序號(對于分析用控制圖)，縱坐標是質量特性值。圖中有三條水平線，上面一條是上管制界限UCL，中間一條是中心線CL，下面一條是下管制界限LCL。該SPC控制圖的作用主要體現為：

1)在質量診斷方面，用來度量過程的穩定性，即過程是否處于統計控制狀態；

2)在質量控制方面，用來確定何時需要對過程加以調整，何時需使過程保持相應的穩定狀態；

3)在質量改進方面，可以用來確認某過程是否得到了改進。

但是隨著生產過程質量提升，數據點均會在上下管制界限之間，因此控制圖管制線不能對數據點進行有效的分析評價，導致需要進行人工管控，經常會有誤判斷的情況出現。

鑒于上述的缺陷，有必要提供一種新的控制圖管制線調整方法。

發明內容

本發明的主要目的是提供一種控制圖管制線調整方法，旨在解決現有技術中人工管控時誤判斷多的缺陷。

為實現上述目的，本發明提供一種控制圖管制線調整方法，包括以下步驟：

記錄多個CCD分別拍攝多個不同標準片時對應的光學數據；

選取包括多個數據點的預設管制區間；

設定新的上管制界限和下管制界限；

判斷所述多個數據點中超出所述上管制界限和下管制界限的比例是否小于預設值；

如果判斷為小于預設值，則將控制圖的管制界限調整為所述上管制界限和下管制界限。

可選地，所述選取包括多個數據點的預設管制區間還包括：排除所述多個數據點中的異常值。

可選地，所述將控制圖的管制界限調整為所述新的上管制界限和下管制界限具體包括：

判斷所述預設管制區間對應的時間段內是否有制程變更；

如果判斷為沒有制程變更，則將控制圖的管制界限調整為所述上管制界限和下管制界限。

可選地，所述控制圖管制線調整方法還包括：

如果判斷為不小于預設值，則重新設定間距增大的上管制界限和下管制界限；并重新判斷所述多個數據點中超出所述上管制界限和下管制界限的比例是否小于預設值。

可選地，所述設定新的上管制界限和下管制界限具體包括：

通過穩健標準差方式設定新的上管制界限和下管制界限。