[發(fā)明專利]一種延展變形高精度測(cè)量裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811320334.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109556519A | 公開(公告)日: | 2019-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張琪;張賢杰;高國(guó)強(qiáng);張萬(wàn)瑜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 陳星 |
| 地址: | 710072 *** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 石英柱 延展 高精度測(cè)量裝置 光纖位移傳感器 水平石英 豎直 底座 變形 工業(yè)化應(yīng)用 小尺寸零件 被測(cè)試件 測(cè)量臺(tái)面 垂直底座 面積減小 熱脹冷縮 試件表面 微晶玻璃 有效測(cè)量 校準(zhǔn) 變形量 低成本 短流程 試件 摩擦 | ||
1.一種延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:包括底座、豎直石英柱、頂部連接塊、水平石英柱、中部連接塊和光纖位移傳感器;
所述底座為板狀結(jié)構(gòu);所述頂部連接塊和中部連接塊均為柱狀結(jié)構(gòu),其中心軸線平行設(shè)置;兩個(gè)所述頂部連接塊平行且相對(duì)設(shè)置,其中心軸線所在平面平行于所述底座,通過(guò)所述豎直石英柱將兩個(gè)所述頂部連接塊固定于所述底座上方;所述豎直石英柱垂直固定于所述底座上,其頂端穿過(guò)所述頂部連接塊上的第一通孔,使兩個(gè)所述頂部連接塊能夠沿所述豎直石英柱軸向移動(dòng),并通過(guò)緊固螺釘固定;兩個(gè)所述水平石英柱平行設(shè)置于所述底板上方,并相互平行且垂直于所述頂部連接塊,其兩端分別穿過(guò)兩個(gè)所述頂部連接塊相對(duì)面上設(shè)置的第二通孔,并通過(guò)緊固螺釘固定;所述第二通孔垂直于所述頂部連接塊的中心軸線,且平行于所述底座;所述中部連接塊平行設(shè)置于兩個(gè)所述頂部連接塊之間,兩個(gè)所述水平石英柱穿過(guò)所述中部連接塊上的第三通孔,使所述中部連接塊能夠沿所述水平石英柱軸向移動(dòng),并通過(guò)緊固螺釘固定;所述第三通孔垂直于所述中部連接塊的中心軸線,且平行于所述底座;
所述中部連接塊上垂直于所述底座設(shè)置有通孔,用于安裝所述光纖位移傳感器,并通過(guò)緊固螺釘固定所述光纖位移傳感器;所述底座上表面固定有試件固定塊,用于將試件垂直固定于所述底座上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:所述頂部連接塊和中部連接塊為外形尺寸相同的長(zhǎng)方體,并都采用不銹鋼材料。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:所述底座為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu),其兩端上表面分別設(shè)置有凹槽,用于底部連接塊的安裝;所述底部連接塊為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu),垂直于其中心軸線方向設(shè)置有通孔,用于固定安裝所述豎直石英柱,使所述豎直石英柱垂直于所述底座。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:多個(gè)所述中部連接塊穿過(guò)所述水平石英柱平行安裝于兩個(gè)所述頂部連接塊之間,每個(gè)所述中部連接塊上均安裝有光纖位移傳感器,能夠?qū)崿F(xiàn)多個(gè)試件的測(cè)試。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:所述試件固定塊為L(zhǎng)型板狀結(jié)構(gòu),兩個(gè)所述試件固定塊相對(duì)設(shè)置,通過(guò)緊固螺釘將試件底端固定于兩個(gè)所述試件固定塊之間,保證所述試件垂直固定于所述底座上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置,其特征在于:所述頂部連接塊、中部連接塊、豎直石英柱和水平石英柱均為微晶玻璃。
7.一種使用權(quán)利要求1所述延展變形高精度測(cè)量裝置的測(cè)試方法,其特征在于具體步驟如下:
步驟1、高低溫試驗(yàn)機(jī)設(shè)定溫度:按照所述光纖位移傳感器測(cè)量溫度設(shè)定高低溫試驗(yàn)機(jī)溫度,保證多次測(cè)量溫度一致;
步驟2、標(biāo)定所述光纖位移傳感器與標(biāo)準(zhǔn)件的距離:測(cè)量所述光纖位移傳感器與所述標(biāo)準(zhǔn)件上表面之間距離,多次測(cè)量取平均值;所述標(biāo)準(zhǔn)件為矩形板狀結(jié)構(gòu);
步驟3、測(cè)量所述光纖位移傳感器與試件的距離:按照測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),測(cè)量所述光纖位移傳感器與試件的距離;測(cè)量試件過(guò)程中,按照相同時(shí)間間隔測(cè)量所述光纖位移傳感器與所述標(biāo)準(zhǔn)件的距離,確定所述延展變形高精度測(cè)量裝置穩(wěn)定性,并與所述光纖位移傳感器和標(biāo)準(zhǔn)件之間距離進(jìn)行比較;
步驟4、測(cè)量所述光纖位移傳感器與噴丸處理后試件的距離:按照測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),測(cè)量所述光纖位移傳感器與噴丸處理后試件的距離,測(cè)量試件過(guò)程中按照相同時(shí)間間隔測(cè)量所述光纖位移傳感器與所述標(biāo)準(zhǔn)件距離,確定從所述延展變形測(cè)量系統(tǒng)穩(wěn)定性;
步驟5、計(jì)算試件延展變形量:用所述光纖位移傳感器與試件初始距離和所述光纖位移傳感器與標(biāo)準(zhǔn)件距離之差,減去所述光纖位移傳感器與噴丸處理后對(duì)應(yīng)試件的距離和所述光纖位移傳感器與標(biāo)準(zhǔn)件距離之差,即得試件延展變形量。
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