[發(fā)明專利]一種鋁合金粉末中雜質(zhì)元素含量的檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811318477.9 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109298065A | 公開(公告)日: | 2019-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖麗梅;馬冰;白永冰;王秀娟;張麗娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 新疆眾和股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N27/68 | 分類號(hào): | G01N27/68;G01N1/28;G01N1/34;G01N1/44 |
| 代理公司: | 北京鼎佳達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王偉鋒;張小勇 |
| 地址: | 830000 新疆維吾爾自治區(qū)烏魯木齊市*** | 國(guó)省代碼: | 新疆;65 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鋁合金粉末 鋁合金 雜質(zhì)元素 檢測(cè) 塊狀樣品 熔融 清洗 輝光放電質(zhì)譜儀 放電氣體流量 痕量雜質(zhì)元素 輝光放電質(zhì)譜 靈敏度因子 放電電流 試樣加熱 樣品夾具 直流模式 質(zhì)量分?jǐn)?shù) 多元素 脈沖 放入 壓片 冷卻 采集 分析 應(yīng)用 | ||
1.一種鋁合金粉末中雜質(zhì)元素含量的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)將待測(cè)的鋁合金粉末試樣置入石墨坩堝中,加熱至熔融狀態(tài);
(2)將熔融狀態(tài)的鋁合金冷卻至常溫后,得到鋁合金塊狀樣品;
(3)將鋁合金塊狀樣品進(jìn)行壓片,得鋁合金樣片;
(4)清洗鋁合金樣片;
(5)將清洗后的鋁合金樣片放入GD-MS樣品夾具中,離子源抽真空,在直流模式下,設(shè)定放電電流為60-90mA,放電氣體流量為350-490mL/min,中分辨率大于3800,高分辨大于8000;
(6)在步驟(5)設(shè)定的條件下進(jìn)行脈沖輝光放電質(zhì)譜儀分析,采集待測(cè)元素的信號(hào)強(qiáng)度,應(yīng)用相對(duì)靈敏度因子計(jì)算出其中痕量雜質(zhì)元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述步驟(1)中,鋁合金粉末試樣置入石墨坩堝中,在1000-1500℃下,加熱2-4h。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述石墨坩堝在真空管式爐或氣氛爐中加熱。
4.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述石墨坩堝的純度應(yīng)不小于99.999%。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述步驟(3)中,鋁合金樣片的直徑為20-30mm,厚度為2-10mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述壓片壓力為3-5KN。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述步驟(4)中,清洗步驟為:在純水中進(jìn)行超聲清洗兩次,最后用乙醇超聲清洗,烘干。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述相對(duì)靈敏度因子的計(jì)算過程為:至少選擇3個(gè)不同等級(jí)的鋁合金標(biāo)準(zhǔn)樣品,選擇基體元素和需測(cè)定的雜質(zhì)元素,選擇最佳雜質(zhì)元素的分析同位素及分辨率,采用輝光質(zhì)譜法建立校準(zhǔn)曲線,得出各元素的相對(duì)靈敏度因子。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述步驟(6)中,在采集待測(cè)元素的信號(hào)強(qiáng)度前,先預(yù)濺射10-30min。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其特征在于,其中,
所述步驟(6)中,采用Element GD型輝光放電質(zhì)譜儀,在脈沖模式下,設(shè)定放電電流為75mA,放電氣體流量為420mL/min,中分辨分辨率大于4000,預(yù)濺射30min。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于新疆眾和股份有限公司,未經(jīng)新疆眾和股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811318477.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





