[發明專利]一種干式空心電抗器的測試方法及測試裝置有效
| 申請號： | 201811314629.8 | 申請日： | 2018-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN109444581B | 公開（公告）日： | 2021-04-23 |
| 發明（設計）人： | 劉宏偉;莫錦濤;陳一丹 | 申請（專利權）人： | 華北電力大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 鄧超 |
| 地址： | 102206 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 空心 電抗 測試 方法 裝置 | ||
1.一種空心電抗器的測試方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取電抗器的幾何參數；
基于所述幾何參數，建立所述電抗器的幾何測試模型；
對所述幾何測試模型進行網格剖分；
對網格剖分后的所述幾何測試模型設定測試參數；
基于所述測試參數，生成所述電抗器的線圈短路時所述電抗器的性能曲線圖；
其中，在所述基于所述測試參數，生成所述電抗器的線圈短路時所述電抗器的性能曲線圖之后，所述方法包括：
基于所述性能曲線圖，確定所述電抗器的故障情況；
所述幾何參數包括所述電抗器的線圈高度、線圈外徑和線圈內徑，所述基于所述幾何參數，建立所述電抗器的幾何測試模型，包括：
建立二維平面坐標系，其中，在所述二維平面坐標系中，第一坐標軸沿所述電抗器的線圈的直徑的延伸方向，第二坐標軸沿所述電抗器的線圈的高度的延伸方向；
基于所述線圈外徑和所述線圈內徑，確定表示所述電抗器每匝線圈縱截面的幾何圖形的幾何數據，其中，所述幾何數據包括所述幾何圖形的邊長；
基于所述線圈高度，確定每個所述幾何圖形展示在所述二維平面坐標系時的中心點坐標；
基于每個所述中心點坐標和所述幾何數據，在所述二維平面坐標系中生成包括有多個所述幾何圖形的幾何測試模型，其中，多個所述幾何圖形呈矩陣排布；
所述幾何參數包括所述電抗器的線圈高度、線圈外徑和線圈內徑，所述基于所述幾何參數，建立所述電抗器的幾何測試模型，包括：建立三維空間坐標系，其中，在所述三維空間坐標系中，第一坐標軸和第二坐標軸所在的平面與所述電抗器的線圈的橫截面相平行，第三坐標軸沿所述電抗器的線圈的高度方向延伸；
基于所述線圈高度，確定所述電抗器每匝線圈的中線在所述三維空間坐標系中的位置；
基于每個所述中線的位置，確定每個所述中線對應的旋轉點，其中，每個所述旋轉點與對應的所述中線的垂直距離為預設距離；
按照所述線圈中電流的流向，使每個所述旋轉點圍繞對應的所述中線旋轉得到多匝線圈，生成包括有多匝線圈的幾何測試模型。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述幾何測試模型進行網格剖分的步驟，包括：
確定所述幾何測試模型所處的空氣場中，圍繞所述幾何測試模型預設范圍內的空氣區域；
按照預設的剖分規則，將所述幾何測試模型和所述空氣區域進行網格剖分。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試參數包括所述幾何測試模型中發生短路的線圈的位置和數量。
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