[發(fā)明專利]一種大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811314563.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109115789A | 公開(公告)日: | 2019-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林德峰;唐茜;薛海峰;王紅召;賈慶龍;宋揚(yáng)民;陳飛;唐桃山 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍96630部隊(duì) |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京知呱呱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11577 | 代理人: | 呂學(xué)文;武媛 |
| 地址: | 102206 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 旋轉(zhuǎn)軸承 水平位移調(diào)節(jié)桿 角度調(diào)節(jié)桿 位移調(diào)節(jié)桿 支撐橫桿 支撐縱桿 夾持部 質(zhì)檢 無損檢測裝置 大型回轉(zhuǎn)體 紅外檢測頭 可滑動(dòng)連接 底座 無損檢測技術(shù) 大型回轉(zhuǎn)件 多次成像 紅外成像 檢測結(jié)果 平臺(tái)設(shè)置 平臺(tái)實(shí)現(xiàn) 水平鉸接 萬向鉸接 固定端 自由端 內(nèi)圈 | ||
本發(fā)明公開了一種大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置,涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,包括底座、旋轉(zhuǎn)軸承、質(zhì)檢平臺(tái)、支撐縱桿、支撐橫桿、水平位移調(diào)節(jié)桿、高度位移調(diào)節(jié)桿、角度調(diào)節(jié)桿、夾持部以及紅外檢測頭,旋轉(zhuǎn)軸承平置于底座的上部,質(zhì)檢平臺(tái)設(shè)置于旋轉(zhuǎn)軸承的內(nèi)圈的上部,支撐縱桿固定于旋轉(zhuǎn)軸承,支撐橫桿固定于支撐縱桿,水平位移調(diào)節(jié)桿可滑動(dòng)連接于支撐橫桿,高度位移調(diào)節(jié)桿可滑動(dòng)連接于水平位移調(diào)節(jié)桿,角度調(diào)節(jié)桿的固定端水平鉸接于高度位移調(diào)節(jié)桿,夾持部萬向鉸接于角度調(diào)節(jié)桿的自由端,紅外檢測頭固定于夾持部,旋轉(zhuǎn)質(zhì)檢平臺(tái)實(shí)現(xiàn)對(duì)大型回轉(zhuǎn)件的連續(xù)紅外成像,避免因多次成像導(dǎo)致的檢測結(jié)果不準(zhǔn)確的問題,可以精確找到缺陷的位置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置。
背景技術(shù)
無損檢測是指在不損害或不影響被檢測對(duì)象使用性能,且不傷害被檢測對(duì)象內(nèi)部組織的前提下,利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷的存在而引起的熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,以物理或化學(xué)方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測試的方法。其中紅外檢測技術(shù)是一種快速有效的無損檢測技術(shù),其原理是通過主動(dòng)激勵(lì)方式使內(nèi)部具有異性結(jié)構(gòu)的物體的表面溫度場分布產(chǎn)生差異,利用熱像儀檢測得到熱波圖像來實(shí)現(xiàn)缺陷的定位、識(shí)別和定量檢測。
目前對(duì)于大型具有回轉(zhuǎn)體特征的被檢測物,需要人工拿著檢測儀器檢測,因其直徑較大或超大,往往需要一段一段的多次紅外成像才能獲得整個(gè)圓周面的無損檢測結(jié)果,而且在檢測中還需要保證被檢測面與紅外熱激勵(lì)源及紅外熱像儀三者的相對(duì)位置保持一致,使得檢測效率較低,而且檢測的精度不高,無法準(zhǔn)確定位缺陷位置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置,用以解決現(xiàn)有大型回轉(zhuǎn)體無損檢測時(shí)需要多次成像導(dǎo)致的精度不高的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例提供一種大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置,其包括底座、旋轉(zhuǎn)軸承、質(zhì)檢平臺(tái)、固定架以及紅外檢測頭,所述旋轉(zhuǎn)軸承平置于所述底座的上部,所述質(zhì)檢平臺(tái)設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)軸承的內(nèi)圈的上部,所述固定架包括支撐縱桿、支撐橫桿、水平位移調(diào)節(jié)桿、高度位移調(diào)節(jié)桿、角度調(diào)節(jié)桿以及夾持部,所述支撐縱桿的一端固定于所述旋轉(zhuǎn)軸承的外圈,所述支撐橫桿固定于所述支撐縱桿的另一端,所述支撐橫桿水平設(shè)置,所述水平位移調(diào)節(jié)桿的底端沿水平方向可滑動(dòng)地連接于所述支撐橫桿,所述水平位移調(diào)節(jié)桿豎直設(shè)置,所述高度位移調(diào)節(jié)桿沿豎直方向可滑動(dòng)地連接于所述水平位移調(diào)節(jié)桿,所述角度調(diào)節(jié)桿的固定端水平鉸接于所述高度位移調(diào)節(jié)桿,所述夾持部萬向鉸接于所述角度調(diào)節(jié)桿的自由端,所述紅外檢測頭固定于所述夾持部。
在一個(gè)可選方案中,在所述底座的底部周邊設(shè)有多個(gè)腳輪,多個(gè)所述腳輪間隔分布。
在一個(gè)可選方案中,在所述質(zhì)檢平臺(tái)的上側(cè)面的邊緣設(shè)有刻度。
在一個(gè)可選方案中,所述大型回轉(zhuǎn)體無損檢測裝置還包括定位指針和針座,所述針座的底端固定于所述支撐縱桿,所述定位指針固定于所述針座的頂端。
在一個(gè)可選方案中,在所述質(zhì)檢平臺(tái)的上側(cè)面還設(shè)有多個(gè)定位塊,多個(gè)所述定位塊相對(duì)所述質(zhì)檢平臺(tái)的中心呈陣列分布。
在一個(gè)可選方案中,所述固定架還包括把手,所述把手設(shè)置于所述水平位移調(diào)節(jié)桿的頂部。
在一個(gè)可選方案中,所述支撐縱桿設(shè)有兩根,兩根所述支撐縱桿間隔設(shè)置,所述支撐橫桿的兩端分別固定于兩根所述支撐縱桿。
在一個(gè)可選方案中,所述水平位移調(diào)節(jié)桿設(shè)有兩根,兩根所述水平位移調(diào)節(jié)桿間隔設(shè)置,所述高度位移調(diào)節(jié)桿的兩端分別連接于兩根所述水平位移調(diào)節(jié)桿。
本發(fā)明實(shí)施例具有如下優(yōu)點(diǎn):
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





