[發明專利]基于細粒度特征語義網絡的系統接口時序知識分析方法

在審

• 申請號: 201811314413.1
• 申請日: 2018-11-06
• 公開（公告）號: CN109460478A
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 王佳佳;李娜;張晛;楊楠;王穎;唱明旭;張依漪;王棟
• 申請（專利權）人: 北京京航計算通訊研究所
• 主分類號: G06F16/36
• 分類號: G06F16/36;G06N5/02;G06F11/36
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 周恒

本發明屬于軟件工程技術領域，具體涉及一種基于細粒度特征語義網絡的系統接口時序知識分析方法，其包括：構建嵌入式系統測試故障集；在嵌入式系統測試故障集中搜索接口關鍵問題，分析提取與時序相關的故障，初步形成時序相關的接口故障集；在嵌入式系統測試故障集中搜索與時序關鍵的故障，分析提取與接口相關的故障，形成接口相關的時序故障集；兩個故障集合并形成接口時序故障集；根據時序故障庫中的故障類型，利用基于細粒度特征語義網絡的方法，提取接口時序關鍵影響因素，形成嵌入式系統接口時序知識集。由此得到的嵌入式系統接口時序知識可實現測試知識的繼承，且具有可擴展性，便于測試知識的推送，提升測試效率。

技術領域

本發明屬于軟件工程技術領域，具體涉及一種基于細粒度特征語義網絡的系統接口時序知識分析方法。

背景技術

在工程應用中，軟件質量多數通過軟件測試來進行評價。據統計，在專業的軟件測試機構中，被測的567個軟件中，發現的問題包括代碼問題、文檔問題、時序問題、接口問題等共31958個，而這些問題的描述在風格上、語言組織上、用戶習慣上存在較大的差異，在進行相關問題檢索時，由于描述的多樣性導致遺漏大量信息，因此，對測試故障問題進行總結，形成測試知識勢在必行。

目前對于測試知識的總結，采用人工總結的方式，測試知識之間的描述結構松散、關聯性低、缺少繼承性，不便于用戶的理解、測試知識的維護，造成了測試經驗無法繼承，測試效率無法有效提升的問題。采用傳統的語義網絡表示的方法，可以實現測試知識描述緊湊、關聯性強、具有繼承性的問題，但是知識表示的粒度缺乏一致性，導致知識在應用時，易存在遺漏的情況，無法準確定位故障的原因。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明要解決的技術問題是：如何解決軟件工程領域內軟件測試過程中缺乏系統知識指導、工程技術經驗繼承性差的問題。

(二)技術方案

為解決上述技術問題，本發明提供一種基于細粒度特征語義網絡的系統接口時序知識分析方法，所述方法包括如下步驟：

步驟1：構建嵌入式系統測試故障集；

步驟2：在嵌入式系統測試故障集中搜索接口相關的關鍵故障，在接口相關的關鍵故障中分析提取與時序相關的故障，形成時序相關的接口故障集；

步驟3：在嵌入式系統測試故障集中搜索與時序相關的關鍵故障，在時序相關的關鍵故障中分析提取與接口相關的故障，形成接口相關的時序故障集；

步驟4：將時序相關的接口故障集和接口相關的時序故障集合并形成接口時序故障集；

步驟5：根據接口時序故障集中的故障類型，利用基于細粒度特征語義網絡的方法，提取接口時序相關的關鍵影響因素，形成嵌入式系統接口時序知識集。

其中，所述嵌入式系統測試故障集中存儲引起測試系統軟件發生故障的問題；

具體包括對于測試過程中遇到的故障，收集故障的問題名稱、問題描述、問題類型。

其中，所述問題類型分為程序問題、代碼問題、文檔問題、時序問題、接口問題，每個問題的類型屬于其中一種。

其中，所述步驟2中，對嵌入式系統測試故障集中的故障進行檢索，搜索關鍵字“接口”，將與接口相關的關鍵故障收集后，篩選出與時序相關的故障，形成時序相關的接口故障集。

其中，所述步驟3中，對嵌入式系統測試故障集中的故障進行檢索，搜索關鍵字“時序”，將與時序相關的關鍵故障收集后，篩選出與接口相關的故障，形成接口相關的時序故障集。