[發明專利]沉積腔室、鍍膜設備及鍍膜方法在審
| 申請號: | 201811303246.0 | 申請日: | 2018-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN111206203A | 公開(公告)日: | 2020-05-29 |
| 發明(設計)人: | 田保峽;聞益;曲士座 | 申請(專利權)人: | 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/02 | 分類號: | C23C14/02;C23C14/06;C23C14/24;C23C14/58 |
| 代理公司: | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315 | 代理人: | 許志勇 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 沉積 鍍膜 設備 方法 | ||
1.一種沉積腔室,其特征在于,包括至少兩排金屬蒸發源和至少一排非金屬蒸發源;
每排所述金屬蒸發源包括至少兩種金屬蒸發源;
沿著所述沉積腔室的幅長方向,所述至少兩排金屬蒸發源分別設置于所述沉積腔室的兩側,且每排所述金屬蒸發源成直線排布;每排所述金屬蒸發源的總數量為8個。
2.根據權利要求1所述的沉積腔室,其特征在于,每排所述金屬蒸發源包括鎵Ga蒸發源、銦In蒸發源和銅Cu蒸發源;或/和所述非金屬蒸發源為Se蒸發源;
在相鄰兩排所述金屬蒸發源之間設置至少一排所述非金屬蒸發源。
3.根據權利要求1所述的沉積腔室,其特征在于,沿著所述沉積腔室的幅長方向,至少兩排所述金屬蒸發源分別設置于所述沉積腔室的底部;或/和
每排相鄰兩個所述金屬蒸發源之間設置有間隙;或/和
所述非金屬蒸發源為1~5排;或/和
每排相鄰兩個所述非金屬蒸發源之間具有間隙,每排所述非金屬蒸發源的個數為3~18個。
4.根據權利要求1~3任一項所述的沉積腔室,其特征在于,沿所述沉積腔室的幅長方向,每排所述金屬蒸發源的排布順序依次為:
Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Cu蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Cu蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,Ga蒸發源,;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
Ga蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,In蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源;或者
In蒸發源,Cu蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,In蒸發源,;或者
In蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,Cu蒸發源,In蒸發源,Ga蒸發源,Cu蒸發源。
5.根據權利要求1~3任一項所述的沉積腔室,其特征在于,所述Cu蒸發源的中心線、In蒸發源的中心線和Ga蒸發源的中心線與參考線之間的夾角為20-45度,所述參考線為垂直于所述沉積腔室的底部的直線。
6.一種鍍膜設備,其特征在于,包括權利要求1~5任一項所述的沉積腔室;或/和
所述鍍膜設備包括前處理腔室或/和后處理腔室,所述前處理腔室或/和所述后處理腔室中設置有堿金屬化合物蒸發源。
7.根據權利要求6所述的鍍膜設備,其特征在于,所述沉積腔室設置于所述前處理腔室與所述后處理腔室之間;且在所述前處理腔室與所述沉積腔室之間或/和在所述沉積腔室和所述后處理腔室之間設置加熱腔室。
8.一種鍍膜方法,應用于權利要求6或7任一項所述的鍍膜設備,其特征在于,所述方法包括:
控制沉積腔室的溫度達到預設溫度閾值,在沉積腔室中通過沉積工藝在玻璃襯底的表面沉積,形成CIGS薄膜。
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