[發明專利]一種基于機器視覺的磁芯表面缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201811301846.3
• 申請日: 2018-11-02
• 公開（公告）號: CN109507192B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 范洪輝;李佳偉;朱洪錦
• 申請（專利權）人: 江蘇理工學院
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/95
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 高姍

本發明涉及缺陷檢測技術領域，尤其是一種基于機器視覺的磁芯表面缺陷檢測方法，其步驟為：通過彩色CCD工業相機采集待檢測磁芯的十張圖片；對采集到的圖進進行灰度處理，轉換為單通道的灰度圖像；用圖像質量評價函數對灰度處理之后的圖片進行評價，選出最佳測試圖片；用伽馬變換對圖像進行對比增強處理；用OSTU算法獲得二值圖；用4連通區域法提取出缺陷的輪廓；用最小外接矩形繪制出缺陷的輪廓，并計算其面積；將計算出的矩形面積與設定的閾值進行比較，大于閾值則將矩形的頂點坐標記錄下來，否則忽略不計；在原圖像中繪出缺陷的最小外接矩形；將缺陷信息和圖片上傳到數據庫，本發明檢測精度更高、靈活性更加好、更加具有智能性。

技術領域

本發明涉及缺陷檢測技術領域，具體領域為一種基于機器視覺的磁芯表面缺陷檢測方法。

背景技術

磁芯在生產過程中由于生產工藝或生產環境的原因造成如：劃痕、擦傷、缺口等表面缺陷。這些磁芯表面缺陷會使產品的強度變差、電氣特性降低、甚至嚴重的會造成很大的安全隱患。當前對于磁芯的質量檢測，通常是依賴人工通過眼鏡觀察表面缺陷。

傳統的人工檢測主要有以下缺點：1.人眼的空間分辨率有限，難以分辨細小的裂痕。2.人工檢測容易受主觀意識影響，檢測的準確率難以保障。3.人工檢測的效率低，無法實現產品質量的信息化管理。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于機器視覺的磁芯表面缺陷檢測方法，以解決現有技術中人工操作誤差大，效率低的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種基于機器視覺的磁芯表面缺陷檢測方法，其步驟為：

1)通過彩色CCD工業相機采集待檢測磁芯的十張圖片；

2)對采集到的圖進進行灰度處理，轉換為單通道的灰度圖像；

3)用圖像質量評價函數對灰度處理之后的圖片進行評價，選出最佳測試圖片；

4)用3x3的中值濾波對選出的最佳測試圖片進行去噪聲處理；

5)用伽馬變換對圖像進行對比增強處理；

6)用OSTU算法獲得二值圖；

7)用4連通區域法提取出缺陷的輪廓；；

8)用最小外接矩形繪制出缺陷的輪廓，并計算其面積；

9)將計算出的矩形面積與設定的閾值進行比較，大于閾值則將矩形的頂點坐標記錄下來，否則忽略不計；

10)在原圖像中繪出缺陷的最小外接矩形；

11)將缺陷信息和圖片上傳到數據庫。

優選的，所述的CCD工業相機為彩色工業相機。

優選的，根據步驟1)至3)，每次采集10張圖片(I₀…I₉)，進行灰度處理，再通過圖像質量評價函數選出最佳測試圖片I_best。

優選的，所述的圖像質量評價函數為：

I_Gray＝0.30*R+0.59*G+0.11*B (1)

f＝∑_x∑_y(|f(x，y)-f(x-1，y)|+|f(x，y)-f(x+1，y)|+|f(t，y)-

f(x，y-1)|+|f(x，y)-f(x，y+1)|) (2)

公式1：單通道灰度化公式，I_Gray灰度化之后的圖像，R、G、B彩色圖像的三通道值；