[發(fā)明專利]存儲(chǔ)設(shè)備測試方法、存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811299520.1
• 申請日: 2018-11-01
• 公開（公告）號(hào): CN109446013B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張輝
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳三地一芯電子有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國;王韜

本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)設(shè)備測試方法、存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法應(yīng)用于存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)中，存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)包括測試設(shè)備及與測試設(shè)備連接的連接器，連接器用于連接待測試的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備，存儲(chǔ)設(shè)備測試方法包括以下步驟：測試設(shè)備的測試程序向連接器發(fā)送測試信號(hào)，以與測試板上的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備依次連接進(jìn)行測試；測試設(shè)備的過濾驅(qū)動(dòng)程序監(jiān)控連接器向測試程序反饋的測試異常信號(hào)；當(dāng)過濾驅(qū)動(dòng)程序監(jiān)控到連接器反饋的測試異常信號(hào)時(shí)，跳過測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作，以轉(zhuǎn)入對(duì)下一存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測試。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了提高多存儲(chǔ)設(shè)備的測試效率的目的。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及存儲(chǔ)設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種存儲(chǔ)設(shè)備測試方法、存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

目前U盤及類似設(shè)備在工廠貼片或綁線，一般是多個(gè)設(shè)備連板的，工廠需要通過測試來檢測貼片或綁線是否沒有問題，一般會(huì)利用HUB接上這個(gè)連板上的所有設(shè)備，再通過PC軟件檢測出哪些設(shè)備有問題。當(dāng)某一個(gè)設(shè)備有異常時(shí)，操作系統(tǒng)會(huì)反復(fù)嘗試訪問設(shè)備驗(yàn)證故障，時(shí)間很長，導(dǎo)致其它正常設(shè)備要在這個(gè)異常設(shè)備訪問結(jié)束時(shí)才上盤檢測，效率相當(dāng)?shù)拖隆?/p>

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種存儲(chǔ)設(shè)備測試方法，旨在提高多存儲(chǔ)設(shè)備的測試效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)設(shè)備測試方法，用于存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)，所述存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)包括測試設(shè)備及與所述測試設(shè)備連接的連接器，所述連接器用于連接待測試的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備，所述存儲(chǔ)設(shè)備測試方法包括以下步驟：

測試設(shè)備的測試程序向所述連接器發(fā)送測試信號(hào)，以與測試板上的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備依次連接進(jìn)行測試；

測試設(shè)備的過濾驅(qū)動(dòng)程序監(jiān)控連接器向所述測試程序反饋的測試異常信號(hào)；

當(dāng)所述過濾驅(qū)動(dòng)程序監(jiān)控到連接器反饋的測試異常信號(hào)時(shí)，跳過所述測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作，以轉(zhuǎn)入對(duì)下一存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測試。

可選地，所述跳過所述測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作包括：

控制所述連接器切斷當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備與所述測試程序的測試連接。

可選地，所述跳過所述測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作包括：

減少測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的故障重試次數(shù)。

可選地，所述減少測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的故障重試次數(shù)包括：

將測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的故障重試次數(shù)設(shè)定為零次。

可選地，所述跳過所述測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作包括：

縮短測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的測試時(shí)間。

可選地，所述縮短測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的測試時(shí)間包括：

將測試設(shè)備與當(dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備之間握手協(xié)議協(xié)定的測試時(shí)間設(shè)定為零。

可選地，所述當(dāng)所述過濾驅(qū)動(dòng)程序監(jiān)控到連接器反饋的測試異常信號(hào)時(shí)，跳過所述測試程序的異常設(shè)備處理動(dòng)作，以轉(zhuǎn)入對(duì)下一存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測試還包括：

過濾驅(qū)動(dòng)程序?qū)Ξ?dāng)前測試的存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行異常標(biāo)識(shí)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)，所述存儲(chǔ)設(shè)備測試系統(tǒng)包括測試設(shè)備及與所述測試設(shè)備連接的連接器，所述連接器用于連接待測試的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備；其中，

所述測試設(shè)備包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的存儲(chǔ)設(shè)備測試程序，所述存儲(chǔ)設(shè)備測試程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如下步驟：

測試設(shè)備的測試程序向所述連接器發(fā)送測試信號(hào)，以與測試板上的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備依次連接進(jìn)行測試；