[發明專利]一種AEP內存的數據塊鏈路特性測試方法

有效

• 申請號: 201811298689.5
• 申請日: 2018-11-02
• 公開（公告）號: CN109408277B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 贠雄斌
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉曉政

本發明提供了一種內存的數據塊鏈路特性測試方法，包括如下步驟：1)依據AEP內存的APP mode的regionID創建數據塊空間；2)格式化創建的數據塊空間，并掛載到系統路徑中；3)制作IO流測試配置表，通過配置參數調整測試數據塊不同大小、容量、深度、測試時長、讀寫，對數據空間盤測試驗證；4)依據測試的數據空間盤命名導入不同測試log收集文檔中；測試結束。該方法可以有效的檢測AEP內存的數據塊鏈路，進行讀寫操作，不同數據塊大小容量切換測試，測試結果收集的方面。

技術領域：

本發明涉及的是一種用于AEP內存的數據塊鏈路特性測試方法。

背景技術：

AEP內存簡稱Apache Pass DIMMs，為高性能和靈活性而設計的，TheOptane^TMDC persistent memory(DCPMM)是新一代直流持久記憶非易失性存儲器模塊，引入Optane^TM媒體技術記憶媒體DDR4形式因素。支持內存操作模式是Memory Mode(volatile)和App Direct(persistent memory)。AEP內存測試中有一項基本特性的測試是要求數據塊鏈路測試，數據塊就是數據空間塊，是基于App Direct mode特性創建的一種可用于存儲數據流交換的閃存空間設備塊，具有memory flash的特性，當電流關掉后，所存儲的數據不會消失者的電腦存儲器。既然是數據空間塊當數據流IO時，在同一區塊中相近的記憶單元內容改變或進行寫入時，由于閾值電壓接近的關系，相鄰的位(bit)也被升高，從而造成相鄰的位出錯，而形成讀寫干擾的問題。目前AEP內存的數據塊鏈路特性測試方法，就是基于驗證數據塊鏈路的讀寫品質，以保障服務器使用中的穩定性，降低后續維護成本。目前在AEP內存的數據塊鏈路測試中，各廠商都是在摸索測試階段，沒有形成統一的標準和規則。

發明內容：

本發明的目的就是針對現有技術所存在的不足，而提供一種AEP內存的數據塊鏈路特性測試方法，該方法可以有效的檢測AEP內存的數據塊鏈路，進行讀寫操作，不同數據塊大小容量自由切換測試，測試結果自行收集的方面。

本方案是通過如下技術措施來實現的：1.一種AEP內存的數據塊鏈路特性測試方法，包括如下步驟：1)依據AEP內存的APP mode的regionID創建數據塊空間；2)格式化創建的數據塊空間，并掛載到系統路徑中；3)制作IO流測試配置表，通過配置參數調整測試數據塊不同大小、容量、深度、測試時長、讀寫，對數據空間盤測試驗證；4)依據測試的數據空間盤命名導入不同測試log收集文檔中；測試結束。實現了是創建數據塊空間、格式化數據空間、掛載路徑確定、IO流的控制、測試結果分類收集。

步驟1)中，首先開啟AEP內存的App Direct mode特性功能，將內存的存儲介質特性和空間RegionID形成對應關系。開啟AEP內存的App Direct mode特性功能后，在通過ndctl list–R命令查看RegionID，如果Regionid出現則AppDirect屬性開啟成功，否則失敗。創建數據空間盤，方法如下：使用廠商工具ndctl列出存在的數據空間region，參考下面自動化創建的方式

格式化創建的數據塊空間，然后制作為Ext4或xfs數據空間盤。制作為Ext4或xfs數據空間盤后，逐一提取數據空間盤符名稱，然后創建掛載點，掛載數據空間盤到指定系統路徑，提取系統中數據空間塊到pmlst表。num＝$(ndctl list|grep'namespace'|wc-l)#檢測系統中數據空間塊的數量