[發明專利]分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法有效
| 申請號: | 201811294071.1 | 申請日: | 2018-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN109459351B | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發明(設計)人: | 王琛;常志遠;郭士倫;劉國榮;李力力;趙永剛 | 申請(專利權)人: | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號: | G01N15/00 | 分類號: | G01N15/00;G01T5/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102413 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分辨 微粒 方法 | ||
1.一種分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法,其特征在于該方法包括以下步驟:
步驟一:制備含微粒有機薄膜,所述含微粒有機薄膜含有含鈾微粒和含钚微粒;
步驟二:將α粒子固體徑跡探測器覆蓋在所述含微粒有機薄膜表面,使所述α粒子固體徑跡探測器受到所述含鈾微粒和所述含钚微粒發射的α粒子的輻照,同時標記所述α粒子固體徑跡探測器與所述含微粒有機薄膜的相對位置;
步驟三:對所述α粒子固體徑跡探測器進行蝕刻,使所述α粒子固體徑跡探測器表面形成若干徑跡星,采集各徑跡星的圖像;
步驟四:從所述圖像上測量每個徑跡星的各徑跡輪廓遠離徑跡星中心一端的曲率半徑,獲得每個徑跡星的所述曲率半徑的平均值;
步驟五:根據各徑跡星的所述曲率半徑的平均值大小將各徑跡星分為兩組,所述曲率半徑的平均值大的一組徑跡星為含鈾微粒產生的徑跡星,所述曲率半徑的平均值小的一組徑跡星為含钚微粒產生的徑跡星;
步驟六:根據所述α粒子固體徑跡探測器與所述含微粒有機薄膜的相對位置分辨出所述含微粒有機薄膜上的含鈾微粒和含钚微粒。
2.根據權利要求1所述的分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法,其特征在于:所述含微粒有機薄膜采用以下方法制備:首先,配制有機溶液,所述有機溶液由合成樟腦、火棉膠和乙酸異戊酯組成,所述合成樟腦與所述火棉膠中膠棉的重量比為1:2.5~1:3.5;然后,將樣品中的含鈾微粒和含钚微粒轉移到所述有機溶液中,得到含微粒有機溶液;最后,將所述含微粒有機溶液分散在云母片表面,待溶劑揮發后形成含微粒有機薄膜。
3.根據權利要求1或2所述的分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法,其特征在于:所述α粒子固體徑跡探測器為CR-39固體徑跡探測器。
4.根據權利要求1或2所述的分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法,其特征在于:所述蝕刻為用NaOH溶液進行蝕刻。
5.根據權利要求4所述的分辨含鈾微粒、含钚微粒的方法,其特征在于:所述蝕刻的時間為6~24小時。
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