[發(fā)明專利]一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及其步驟在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811292798.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110095666A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉東威;姬學(xué)乾;史墩杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海圖正信息科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 201199 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 算法芯片 指紋 指紋傳感器 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 模擬器模塊 電性連接 上位機(jī) 模組 模擬器 自動(dòng)化測(cè)試 測(cè)試效率 測(cè)試要求 傳輸指紋 方案?jìng)鬏?/a> 模擬模塊 人工成本 指紋圖像 參考 篩選 圖像 驅(qū)動(dòng) 節(jié)約 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及其步驟,該測(cè)系統(tǒng)由指紋模擬器模塊、算法芯片模塊和上位機(jī)組成,其中,所述算法芯片模塊和所述指紋模擬器模塊同時(shí)與上位機(jī)進(jìn)行電性連接,所述算法芯片模塊與所述指紋模擬模塊之間電性連接。本方案是利用指紋模擬器代替指紋傳感器給算法芯片模塊傳輸指紋圖像,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。本方案?jìng)鬏斀o算法芯片的指紋圖像可以按測(cè)試要求進(jìn)行篩選,測(cè)試結(jié)果極具參考價(jià)值。所以使用本方案,既節(jié)約了人工成本,同時(shí)提升測(cè)試效率,得到的測(cè)試結(jié)果更加科學(xué)準(zhǔn)確,更具參考價(jià)值。由于不需要使用指紋傳感器,可以排除指紋傳感器驅(qū)動(dòng)的差異對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng),尤其是涉及一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及其步驟。
背景技術(shù)
指紋模組的拒真率、誤識(shí)率及拒登率的這些技術(shù)參數(shù)是評(píng)價(jià)一枚指紋模組性能好壞的重要參數(shù)指標(biāo),而對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程也就顯得尤為重要。目前,指紋模組拒真率、誤識(shí)率及拒登率通用的測(cè)試方法是人工測(cè)試。即測(cè)試人員機(jī)械化地用自己的手指與指紋傳感器反復(fù)接觸,指紋傳感器再將每次采集到的指紋圖像輸送給算法芯片,通過(guò)特定的算法從采集到的指紋中提取指紋特征,并將其與預(yù)先注冊(cè)的指紋模板進(jìn)行比對(duì),經(jīng)過(guò)大量的反復(fù)測(cè)試及比對(duì)結(jié)果的統(tǒng)計(jì),從而達(dá)到指紋模組拒真率、誤識(shí)率及拒登率測(cè)試的目的。此種方法效率低下,如果測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足,則會(huì)造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題,使數(shù)據(jù)缺乏參考價(jià)值。除此之外,指紋采集傳感器驅(qū)動(dòng)的差異也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響,無(wú)法客觀反映指紋模組算法比對(duì)的準(zhǔn)確率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題克服現(xiàn)有的人工測(cè)試方法效率低下問(wèn)題,因此提供一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及其步驟,從而解決上述問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)系統(tǒng)由指紋模擬器模塊、算法芯片模塊和上位機(jī)組成,其中,所述算法芯片模塊和所述指紋模擬器模塊同時(shí)與上位機(jī)進(jìn)行電性連接,所述算法芯片模塊與所述指紋模擬器模塊之間電性連接。
作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述指紋模擬器模塊還包括一枚搭載在指紋模擬器模塊上的MCU和一枚搭載在指紋模擬器模塊上的圖像庫(kù)存儲(chǔ)器。
作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述上位機(jī)用于給指紋模擬器模塊發(fā)送指紋圖像傳輸指令,同時(shí)給算法芯片模塊發(fā)送指紋圖像接收及操作指令。
作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述指紋模擬器模塊用于在接受上位機(jī)指令后將指紋圖像庫(kù)中特定地址的指紋圖像發(fā)送給算法芯片模塊,所述算法芯片模塊用于接收指紋圖像后,執(zhí)行上位機(jī)發(fā)送的操作指令,并將測(cè)試結(jié)果返回上位機(jī)。
本發(fā)明還提供一種指紋模組自動(dòng)化測(cè)試的步驟,上位機(jī)配置指紋模擬器串口、指紋模擬器波特率和算法芯片模塊串口、算法芯片模塊波特率,然后上位機(jī)連接模擬器串口和算法芯片模塊串口,然后:
1)點(diǎn)擊一鍵測(cè)試拒登率(ERR),上位機(jī)向模擬器MCU發(fā)送圖像地址,然后模擬器根據(jù)圖像地址從圖片庫(kù)中讀取相應(yīng)圖像數(shù)據(jù)至內(nèi)存中,模擬器向上位機(jī)返回圖像傳輸準(zhǔn)完成信號(hào),上位機(jī)向算法芯片模塊發(fā)送注冊(cè)指令,算法芯片模塊執(zhí)行指紋圖像注冊(cè)命令,算法芯片模塊向上位機(jī)返回注冊(cè)操作的結(jié)果信息,上位機(jī)記錄注冊(cè)結(jié)果,并通過(guò)返回信息判讀算法芯片模塊中的指紋是否注冊(cè)滿,如果沒(méi)有注冊(cè)滿的話,上位機(jī)可以再一次向模擬器MCU發(fā)送圖像地址,如果注冊(cè)滿的話,上位機(jī)向算法芯片模塊發(fā)送刪除所有已注冊(cè)指紋的命令,然后上位機(jī)得到算法芯片模塊發(fā)出的刪除成功信號(hào)后,重復(fù)下一次N張指紋的注冊(cè)及注冊(cè)結(jié)果的記錄,直至完成圖像庫(kù)中所有待測(cè)指紋的注冊(cè),上位機(jī)將記錄的結(jié)果匯總統(tǒng)計(jì)并輸出拒登率(ERR)測(cè)試報(bào)告;
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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