[發(fā)明專利]射頻電路及電路測試設(shè)備、測試方法、電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811291327.3
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109302202B
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李鵬;王琦
• 申請（專利權(quán)）人: 北京小米移動軟件有限公司
• 主分類號: H04B1/40
• 分類號: H04B1/40;H04B1/401;H04B17/16;H04B17/29;H04M1/24
• 代理公司: 北京博思佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 陳蕾

本公開是關(guān)于一種射頻電路及電路測試設(shè)備、測試方法、電子設(shè)備，該射頻電路可以包括：主集通路和分集通路；測試座；切換開關(guān)，所述切換開關(guān)的一端分別與所述主集通路和所述分集通路連接，另一端與所述測試座連接；所述切換開關(guān)在所述主集通路為待測目標的情況下切換至第一狀態(tài)以與所述主集通路導(dǎo)通，在所述分集通路為待測目標的情況下切換至第二狀態(tài)以與所述分集通路導(dǎo)通。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及終端技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種射頻電路及電路測試設(shè)備、測試方法、電子設(shè)備。

背景技術(shù)

隨著手機、平板等電子設(shè)備在人們?nèi)粘Ｉ钪械膽?yīng)用越來越廣泛，人們對電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)和功能也在不斷提出新的需求，比如要求更小的設(shè)備規(guī)格、更大的屏占比、手感更佳的金屬殼體等。

然而，電子設(shè)備的任何結(jié)構(gòu)和功能上的變化，都可能對天線結(jié)構(gòu)的性能造成影響，從而影響電子設(shè)備最為基礎(chǔ)的通訊功能、降低人們的使用體驗。

發(fā)明內(nèi)容

本公開提供一種射頻電路及電路測試設(shè)備、測試方法、電子設(shè)備，以解決相關(guān)技術(shù)中的不足。

根據(jù)本公開實施例的第一方面，提供一種射頻電路，包括：

主集通路和分集通路；

測試座；

切換開關(guān)，所述切換開關(guān)的一端分別與所述主集通路和所述分集通路連接，另一端與所述測試座連接；所述切換開關(guān)在所述主集通路為待測目標的情況下切換至第一狀態(tài)以與所述主集通路導(dǎo)通，在所述分集通路為待測目標的情況下切換至第二狀態(tài)以與所述分集通路導(dǎo)通。

可選的，所述切換開關(guān)在所述主集通路用于發(fā)射和接收數(shù)據(jù)的情況下被切換至所述第一狀態(tài)。

可選的，還包括：

連接座，所述連接座連接于所述切換開關(guān)的另一端，在所述切換開關(guān)切換至所述第二狀態(tài)的情況下與所述主集通路導(dǎo)通，以使得所述主集通路維持在數(shù)據(jù)發(fā)射狀態(tài)；

所述切換開關(guān)在所述分集通路用于接收數(shù)據(jù)的情況下被切換至所述第二狀態(tài)。

可選的，所述連接座包括cable線纜座。

可選的，所述切換開關(guān)包括雙刀雙擲開關(guān)。

根據(jù)本公開實施例的第二方面，提供一種電路測試設(shè)備，所述電路測試設(shè)備用于測試上述實施例中任一所述的射頻電路；所述電路測試設(shè)備包括：

測試模塊，所述測試模塊用于測試所述主集通路和所述分集通路；

第一測試針，所述第一測試針一端用于與所述待測目標的測試座電連接，另一端與所述測試模塊電連接；

第一天線，所述第一天線用于在與所述主集通路導(dǎo)通的情況下發(fā)射和接收數(shù)據(jù)，以及在與所述分集通路導(dǎo)通的情況下接收數(shù)據(jù)；

控制模塊，所述控制模塊可與所述切換開關(guān)電連接，以切換所述切換開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)。

可選的，所述射頻電路還包括連接座，所述連接座連接于所述切換開關(guān)的另一端，在所述切換開關(guān)切換至所述第二狀態(tài)的情況下與所述主集通路導(dǎo)通，以使得所述主集通路維持在數(shù)據(jù)發(fā)射狀態(tài)，所述切換開關(guān)在所述分集通路用于接收數(shù)據(jù)的情況下切換至所述第二狀態(tài)；所述設(shè)備還包括：

第二測試針，所述第二測試針一端用于與所述連接座電連接，另一端與所述測試模塊電連接；

第二天線，所述第二天線用于在與所述主集通路導(dǎo)通的情況下發(fā)射數(shù)據(jù)。

根據(jù)本公開實施例的第三方面，提供一種射頻電路的測試方法，所述方法基于上述實施例中任一所述的射頻電路實現(xiàn)；所述方法包括：