[發明專利]檢測補償裝置、檢測補償方法及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201811290355.3
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN111123832B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 楊明全;羅晶;李道博;肖健;王志歡
• 申請（專利權）人: 富鼎電子科技（嘉善）有限公司
• 主分類號: G05B19/404
• 分類號: G05B19/404;G05B19/401
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 汪飛亞;習冬梅

本發明提出一種檢測補償裝置，其包括處理器、存儲設備、光柵尺及輸入單元，光柵尺包括第一光柵尺和第二光柵尺，存儲設備還存儲有具有總誤差閾值，檢測補償裝置運行有檢測補償系統，檢測補償系統包括：設定模塊，用于通過輸入單元設定相關數據；測量模塊，用于控制第一光柵尺和第二光柵尺測量移動平臺分別在第一方向和第二方向上的移動距離；計算模塊，用于計算出移動平臺在第一方向和第二方向上的平均移動總誤差、定位精度及移動補償值；比對補償模塊，用于將平均移動總誤差與總誤差閾值比較及判斷采用以相應的間距進行分段補償相應的移動補償值。上述檢測補償裝置檢測及補償精度高。本發明還提出了一種檢測補償方法及計算機可讀存儲介質。

技術領域

本發明涉及一種檢測補償裝置，特別是一種用于對加工設備的移動平臺的精度進行檢測及補償的檢測補償裝置、檢測補償方法及計算機可讀存儲介質。

背景技術

高性能數控機床是裝備制造業的技術基礎和發展方向之一，其精度高、經濟性能好，尤其適用于大批量、高精度要求的零件加工。數控機床出廠時及長期使用后，數控機床的移動平臺的X軸和Y軸需進行定位精度和垂直度檢測以及螺距補償，以提髙移動精度，從而保障產品加工質量。

目前通常采用激光干涉儀檢測系統檢測移動平臺的定位誤差值，再利用計算系統進行手動計算，最后將計算出螺距的補償值輸入系統螺距補償表中，計算方法復雜，一般人員難以掌握，而且激光干涉儀檢測需要專業人員操作，價格昂貴，難以普及應用。此外，對于移動平臺的X軸和Y軸的垂直度的檢測，激光干涉儀無法完成，還需要增設其它設備，如直角軌等，結構復雜。

發明內容

鑒于上述狀況，有必要提供一種便于對數控機床的移動平臺的精度進行檢測及補償的檢測補償裝置、檢測補償方法及計算機可讀存儲介質，以解決上述問題。

本發明提出一種檢測補償裝置，用于對數控機床的移動平臺的定位精度進行檢測及補償，所述檢測補償裝置包括處理器、存儲設備及輸入單元，所述存儲設備及所述輸入單元與所述處理器電性連接，所述處理器適于實現各指令，所述存儲設備適于存儲多條指令，所述檢測補償裝置還包括光柵尺，所述光柵尺設置于所述移動平臺上且與所述處理器電性連接，所述光柵尺包括第一光柵尺和第二光柵尺，所述第一光柵尺用于測量所述移動平臺沿第一方向的移動距離，所述第二光柵尺用于測量所述移動平臺沿第二方向的移動距離，所述存儲設備還存儲有具有總誤差閾值，所述檢測補償裝置運行有檢測補償系統，所述檢測補償系統包括：

設定模塊，用于通過所述輸入單元設定目標移動距離L、測量點的間隔長度P、測量點的個數i及測量次數j；

測量模塊，用于控制所述第一光柵尺和所述第二光柵尺測量移動平臺分別在第一方向和第二方向上的移動距離；

計算模塊，用于根據所述測量模塊的測量數據及所述設定模塊的設定數據計算出所述移動平臺在第一方向和第二方向上的平均移動總誤差、定位精度及移動補償值；

比對補償模塊，用于將所述移動平臺在第一方向和第二方向上的正向移動的平均移動總誤差與所述存儲設備存儲的總誤差閾值比較及判斷采用以相應的間距進行分段補償相應的移動補償值。

本發明同時提出一種檢測補償方法，其包括：

通過一輸入單元設定目標移動距離L、測量點的間隔長度P、測量點的個數i及測量次數j；

控制一第一光柵尺和一第二光柵尺測量移動平臺分別在第一方向和第二方向上的移動距離；

根據測量數據及設定數據計算出移動平臺在第一方向和第二方向上的平均移動總誤差、定位精度及移動補償值；

將所述移動平臺在第一方向和第二方向上的正向移動的平均移動總誤差與存儲設備存儲的總誤差閾值比較及判斷采用以相應的間距進行分段補償相應的移動補償值。