[發明專利]回轉軸中心位置的確定方法及設備、存儲介質、電子裝置

在審

• 申請號: 201811290239.1
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109443180A
• 公開（公告）日: 2019-03-08
• 發明（設計）人: 周昊暉;熊坤;薛乃鳳;黎運堯;蔡小春;麥永科
• 申請（專利權）人: 珠海格力智能裝備有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01B5/25
• 分類號: G01B5/25
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟;董文倩

本發明實施例提供了一種回轉軸中心位置的確定方法及設備、存儲介質、電子裝置，所述方法包括：利用工件測頭對校準裝置的上端面進行測量，其中，校準裝置的上端面為圓形，校準裝置垂直安裝于回轉臺，回轉臺的中心設置回轉軸，回轉臺在回轉軸的驅動下進行旋轉，工件測頭安裝于機床的主軸中心，工件測頭的長度方向平行于回轉臺的上表面；通過測量操作獲取校準裝置上端面的圓心在機床坐標系中的坐標；通過獲取的校準裝置上端面的圓心的坐標，確定回轉軸的中心位置。解決了現有技術中回轉軸中心位置的測量費時費力且誤差較大的問題。

技術領域

本發明涉及數控機床等智能設備技術領域，具體而言，涉及一種回轉軸中心位置的確定方法及設備、存儲介質、電子裝置。

背景技術

傳統測量機床回轉軸中心位置，往往需要花費較長時間，并且存在大量人工誤差，需多次校準后方能找出目標位置，費時費力，并且需要通過加工工件才能找出實際位置。

針對相關技術中，回轉軸中心位置的測量費時費力且誤差較大的問題，尚未有合理的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種回轉軸中心位置的確定方法及設備、存儲介質、電子裝置，以至少解決相關技術中回轉軸中心位置的測量費時費力且誤差較大的問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種回轉軸中心位置的確定方法，包括：利用工件測頭對校準裝置的上端面進行測量，其中，所述校準裝置的上端面為圓形，所述校準裝置垂直安裝于回轉臺，所述回轉臺的中心設置回轉軸，所述回轉臺在所述回轉軸的驅動下進行旋轉，所述工件測頭安裝于機床的主軸中心，所述工件測頭的長度方向平行于所述回轉臺的上表面；通過所述測量操作獲取所述校準裝置上端面的圓心在所述機床坐標系中的坐標；通過獲取的所述校準裝置上端面的圓心的坐標，確定所述回轉軸的中心位置。

優選地，利用工件測頭對校準裝置的上端面進行測量之前，所述方法還包括：將所述校準裝置垂直安裝于所述回轉臺；通過千分表校正所述校準裝置的垂直度。

優選地，通過所述測量操作獲取所述校準裝置上端面的圓心在所述機床坐標系中的坐標包括：將所述回轉臺旋轉至0度位置，獲取所述校準裝置的圓心在所述機床中的第一坐標位置A(x1,y1,z1)；將所述回轉臺旋轉至180度位置，獲取所述校準裝置的圓心在所述機床中的第二坐標位置B(x2,y2,z2)；將所述回轉臺旋轉至90度位置，獲取所述校準裝置的圓心在所述機床中的第三坐標位置C(x3,y3,z3)。

優選地，通過所述校準裝置上端面的圓心的坐標確定所述回轉軸的中心位置包括：確定所述回轉軸中心與所述主軸中心在X軸上的距離，其中，所述回轉軸中心與所述主軸中心在X軸上的距離通過以下公式獲得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回轉軸中心與所述主軸中心在X軸上的距離。

優選地，通過所述校準裝置上端面的圓心的坐標確定所述回轉軸的中心位置還包括：確定所述回轉軸中心與所述主軸中心在Z軸上的距離，其中，所述回轉軸中心與所述主軸中心在Z軸上的距離通過以下公式獲得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回轉軸中心與所述主軸中心在Z軸上的距離，d表示所述工件測頭的長度，R表示所述回轉軸的半徑。

根據本發明的另一個實施例，還提供了一種回轉軸中心位置的確定設備，包括工件測頭和校準裝置，所述校準裝置的上端面為圓形，所述校準裝置垂直安裝于回轉臺，所述回轉臺的中心設置回轉軸，所述回轉臺在所述回轉軸的驅動下進行旋轉，所述工件測頭安裝于機床的主軸中心，所述工件測頭的長度方向平行于所述回轉臺的上表面，其中，所述工件測頭用于對校準裝置的上端面進行測量，使得可以獲取所述校準裝置上端面的圓心在所述機床坐標系中的坐標，并通過獲取的所述校準裝置上端面的圓心的坐標，確定所述回轉軸的中心位置。