[發(fā)明專利]用于獨(dú)立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811289419.8 | 申請日: | 2018-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN111124738B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 康劍斌;董繼炳;高宏坡 | 申請(專利權(quán))人: | 伊姆西IP控股有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 獨(dú)立 冗余 磁盤陣列 數(shù)據(jù)管理 方法 設(shè)備 計(jì)算機(jī) 程序 產(chǎn)品 | ||
本公開涉及一種用于獨(dú)立冗余磁盤陣列(RAID)的數(shù)據(jù)管理方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。該方法包括:獲取第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對是基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的用戶數(shù)據(jù)為預(yù)定值時(shí)的第一校驗(yàn)和而確定的;基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的當(dāng)前校驗(yàn)和,確定RAID的第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對和第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對分別包括行奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值和對角奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值;以及基于第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對以及第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,確定第三校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,以用于更新RAID的校驗(yàn)盤的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及存儲設(shè)備的數(shù)據(jù)管理方法和設(shè)備。更具體地,本公開涉及用于獨(dú)立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方法、設(shè)備及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
背景技術(shù)
當(dāng)前,為了增強(qiáng)存儲設(shè)備的磁盤的容錯(cuò)能力,會在獨(dú)立冗余磁盤陣列(RAID)中配置兩個(gè)獨(dú)立的、基于不同校驗(yàn)機(jī)制的校驗(yàn)盤,例如RAID?6中配置有兩個(gè)基于不同校驗(yàn)機(jī)制的校驗(yàn)盤,即P盤和Q盤。與RAID?5相比,RAID?6由于存在兩個(gè)獨(dú)立的、具有不同算法的校驗(yàn)機(jī)制,因此增強(qiáng)了RAID中磁盤的容錯(cuò)能力,提高了所存儲數(shù)據(jù)的可靠性。
在傳統(tǒng)的用于獨(dú)立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方案中,由于存在兩種不同的校驗(yàn)算法,使得在一些特殊情況下,即使數(shù)據(jù)盤上的數(shù)據(jù)相同,也會得到兩個(gè)不一致的校驗(yàn)和校驗(yàn)值(POC)。例如,當(dāng)RAID?6的數(shù)據(jù)盤的所有用戶數(shù)據(jù)為0時(shí),RAID?6中的P盤和Q盤上的兩個(gè)校驗(yàn)和校驗(yàn)值(POC)既可能是初始校驗(yàn)和校驗(yàn)值(ZeroPOC),也可能是基于校驗(yàn)算法而確定的計(jì)算校驗(yàn)和校驗(yàn)值(SetPOC),因此不能唯一確定POC。這種關(guān)于POC的不確定性使得當(dāng)RAID中的校磁盤發(fā)生降級和/或缺失時(shí),在數(shù)據(jù)恢復(fù)或重建過程中的POC不能唯一被確定,進(jìn)而導(dǎo)致重建過程中的數(shù)據(jù)丟失。
發(fā)明內(nèi)容
本公開提供一種用于獨(dú)立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方法、系統(tǒng),能夠有效地降低在數(shù)據(jù)恢復(fù)過程中丟失數(shù)據(jù)的風(fēng)險(xiǎn)。
根據(jù)本公開的第一方面,提供了一種用于獨(dú)立冗余磁盤陣列(RAID)的數(shù)據(jù)管理方法。該方法包括:獲取第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對是基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的用戶數(shù)據(jù)為預(yù)定值時(shí)的第一校驗(yàn)和而確定的;基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的當(dāng)前校驗(yàn)和,確定RAID的第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對和第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對分別包括行奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值和對角奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值;以及基于第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對以及第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,確定第三校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,以用于更新RAID的校驗(yàn)盤的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面,還提供一種用于獨(dú)立冗余磁盤陣列(RAID)的數(shù)據(jù)管理設(shè)備。該設(shè)備包括:存儲器,被配置為存儲一個(gè)或多個(gè)程序;處理單元,耦合至存儲器并且被配置為執(zhí)行一個(gè)或多個(gè)程序使管理設(shè)備執(zhí)行多個(gè)動作,動作包括:獲取第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對是基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的用戶數(shù)據(jù)為預(yù)定值時(shí)的第一校驗(yàn)和而確定的;基于RAID中的數(shù)據(jù)盤的當(dāng)前校驗(yàn)和,確定RAID的第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對和第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對分別包括行奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值和對角奇偶校驗(yàn)和校驗(yàn)值;以及基于第一校驗(yàn)和校驗(yàn)值對以及第二校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,確定第三校驗(yàn)和校驗(yàn)值對,以用于更新RAID的校驗(yàn)盤的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。
根據(jù)本公開的第三方面,還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品被有形地存儲在非瞬態(tài)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)上并且包括機(jī)器可執(zhí)行指令,所述機(jī)器可執(zhí)行指令在被執(zhí)行時(shí)使機(jī)器執(zhí)行根據(jù)第一方面的方法的步驟。
提供發(fā)明內(nèi)容部分是為了簡化的形式來介紹對概念的選擇,它們在下文的具體實(shí)施方式中將被進(jìn)一步描述。發(fā)明內(nèi)容部分無意標(biāo)識本公開的關(guān)鍵特征或主要特征,也無意限制本公開的范圍。
附圖說明
通過結(jié)合附圖對本公開示例性實(shí)施例進(jìn)行更詳細(xì)的描述,本公開的上述以及其它目的、特征和優(yōu)勢將變得更加明顯,其中,在本公開示例性實(shí)施例中,相同的參考標(biāo)號通常代表相同部件。
圖1示出了傳統(tǒng)的獨(dú)立冗余磁盤陣列100的示意圖;
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G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測試作故障硬件的檢測或定位
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