[發明專利]一種多軸異形樣品X射線熒光光譜分析裝置

有效

• 申請號: 201811288808.9
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109507220B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 王清亞;李福生;湯彬;張麗嬌;張焱;張雄杰
• 申請（專利權）人: 東華理工大學
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 廈門智慧呈睿知識產權代理事務所(普通合伙) 35222
• 代理人: 郭福利;楊玉芳

本發明提供了一種多軸異形樣品X射線熒光光譜分析裝置，涉及X射線探測分析技術領域。其包括：樣品室、設置在樣品室內的第一移動機構、樣品臺、X射線發射器、探測器和攝像頭；所述第一移動機構包括X軸移動機構、Y軸移動機構，所述樣品臺設置在所述X軸移動機構和所述Y軸移動機構上；所述樣品臺包括滑動平臺、固設在所述滑動平臺上的球鉸座、凸輪機構、以及與所述球鉸座鉸接的樣品座，所述凸輪機構包括固設在所述滑動平臺上的電機、與所述電機的輸出軸連接的凸輪以及與所述凸輪抵接配合滑輪件，所述滑輪件遠離所述凸輪的一端連接至所述樣品座。能夠改變異形樣品與X射線發射器的距離和角度，實現對異形樣品多個維度的檢測。

技術領域

本發明涉及X射線探測分析領域，具體而言，涉及一種多軸異形樣品X射線熒光光譜分析裝置。

背景技術

X射線熒光光譜儀是利用熒光X射線而進行物質成分分析的一種檢測儀器，X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性，探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量，然后儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

目前市場上主流XRF儀器的基本結構為二維設計，X射線管被激發產生射線入射樣品，繼而產生樣品熒光被探測器接收，再經譜處理分析，得到測試結果。在使用過程中需要將樣品制備成平面狀的標準樣品，然后進行測定。而對于有些不能被破壞的異形樣品，例如礦石等，則無法進行檢測，極大限制了X射線熒光光譜儀的應用。

有鑒于此，發明人在研究了現有的技術后特提出本申請。

發明內容

本發明提供了一種多軸異形樣品X射線熒光光譜分析裝置，旨在改善X射線熒光光譜儀在異形樣品檢測中受限的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種多軸異形樣品X射線熒光光譜分析裝置，包括：樣品室、設置在樣品室內的第一移動機構、樣品臺、X射線發射器、探測器和攝像頭；

所述第一移動機構包括X軸移動機構、Y軸移動機構，所述樣品臺設置在所述X軸移動機構和所述Y軸移動機構上，且分別通過X軸移動機構、Y軸移動機構沿X軸移動或沿Y軸移動；

所述樣品臺包括滑動平臺、固設在所述滑動平臺上的球鉸座、凸輪機構、以及與所述球鉸座鉸接的樣品座，所述凸輪機構包括固設在所述滑動平臺上的電機、與所述電機的輸出軸連接的凸輪以及與所述凸輪抵接配合滑輪件，所述滑輪件遠離所述凸輪的一端連接至所述樣品座。

作為進一步優化，所述樣品座上轉動連接有樣品盒，所述樣品盒包括轉動座和固定在所述轉動座上的盒體，所述轉動座呈倒T型，所述樣品座開設有與所述轉動座相適配的倒T型槽，所述轉動座可轉動地嵌設在所述倒T型槽中。

作為進一步優化，所述滑動平臺上還設有用于推動所述轉動座相對所述樣品座轉動的旋轉動力件，所述旋轉動力件包括齒輪和驅動齒輪轉動的電機，所述轉動座周設有與所述齒輪嚙合的齒圈。

作為進一步優化，所述滑動平臺與所述Y軸移動機構連接，所述Y軸移動機構驅動所述滑動平臺沿Y軸移動，所述Y軸移動機構與所述X軸移動機構連接，所述X軸移動機構驅動所述Y軸移動機構沿X軸移動。

作為進一步優化，所述X軸移動機構包括兩個沿X軸方向設置的X軸同步帶、配置在所述X軸同步帶上的X軸同步帶輪以及驅動所述X軸同步帶輪轉動的第一步進電機，所述Y軸移動機構的兩端分別與兩個X軸同步帶固定。

作為進一步優化，所述Y軸移動機構包括連接座、設置在連接座上Y軸同步帶、配置在所述Y軸同步帶上的Y軸同步帶輪以及驅動所述Y軸同步帶輪轉動的第二步進電機，所述滑動平臺固定在所述Y軸同步帶上。

作為進一步優化，所述連接座上還設有Y軸導桿，所述Y軸導桿穿設在所述滑動平臺內，與所述滑動平臺滑動連接。