[發(fā)明專利]基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811286520.8
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109190318B
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 路慎強(qiáng);赫俊民;王興謀;郭俊;余學(xué)鋒;林亞林;孫淑艷;彭英;李克文;畢麗飛
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F17/18
• 代理公司: 濟(jì)南日新專利代理事務(wù)所(普通合伙) 37224
• 代理人: 崔曉艷

本發(fā)明提供一種基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法，包括：通過井?dāng)?shù)據(jù)獲取斜井W的井眼坐標(biāo)X、Y，通過井斜數(shù)據(jù)對采樣點(diǎn)依次進(jìn)行計(jì)算，得到當(dāng)前采樣點(diǎn)下更新后的斜井平面坐標(biāo)X、Y及累積垂深；通過層位數(shù)據(jù)使用最小絕對值距離來精確匹配更新后的平面坐標(biāo)X、Y所在地震道對應(yīng)目標(biāo)層位的時間t₁；通過時深數(shù)據(jù)使用最小絕對值距離來精確匹配到達(dá)該深度所需的時間t₂；比較t₁和t₂的大小，當(dāng)t₂≥t₁時，此時的平面坐標(biāo)X、Y即斜井在目標(biāo)層位的真實(shí)坐標(biāo)。該方法實(shí)現(xiàn)了以時間度量作為標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行斜井在目標(biāo)層位的坐標(biāo)校正，通過最小絕對值距離來精確匹配目標(biāo)層位的地震道，為井筒數(shù)據(jù)和地震屬性數(shù)據(jù)相關(guān)關(guān)系的研究提供準(zhǔn)確的井坐標(biāo)支持。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及地球物理勘探和計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及到一種基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法。

背景技術(shù)

在研究井筒數(shù)據(jù)和地震屬性數(shù)據(jù)相關(guān)關(guān)系的過程中，通常以井在目標(biāo)層位的平面坐標(biāo)(X、Y)為基礎(chǔ)，選取固定大小的時窗(如20ms、30ms等)來匹配井筒數(shù)據(jù)和地震屬性數(shù)據(jù)得到帶有類別標(biāo)簽的樣本數(shù)據(jù)。由于勘探開發(fā)難度的不斷提高，斜井?dāng)?shù)量在鉆井工程中的比例越來越大，而斜井由于井眼軌道偏移，其在目標(biāo)層位的平面坐標(biāo)已發(fā)生偏移，需要對斜井坐標(biāo)進(jìn)行校正。常規(guī)的斜井井軌跡計(jì)算方法有正切法、平均角法、平衡正切法、圓柱螺旋線法等，使用這些方法進(jìn)行計(jì)算后得到包含多個采樣點(diǎn)的井斜數(shù)據(jù)(包含井斜角、方位角、測點(diǎn)深度、坐標(biāo)偏移量等)，并不能直接得到斜井在目標(biāo)層位的真實(shí)平面坐標(biāo)，因此需要對斜井在目標(biāo)層位的平面坐標(biāo)進(jìn)行校正。為此我們發(fā)明了一種新的基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法，解決了以上技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種可以計(jì)算斜井在目標(biāo)層位的真實(shí)平面坐標(biāo)，實(shí)現(xiàn)斜井在目標(biāo)層位的坐標(biāo)校正的基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法。

本發(fā)明的目的可通過如下技術(shù)措施來實(shí)現(xiàn)：基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法，該基于時間度量的斜井井軌跡計(jì)算方法包括：步驟1，通過井?dāng)?shù)據(jù)獲取斜井W的井眼坐標(biāo)X、Y，通過井斜數(shù)據(jù)對采樣點(diǎn)依次進(jìn)行計(jì)算，得到當(dāng)前采樣點(diǎn)下更新后的斜井平面坐標(biāo)X、Y及累積垂深；步驟2，通過層位數(shù)據(jù)使用最小絕對值距離來精確匹配更新后的平面坐標(biāo)X、Y所在地震道對應(yīng)目標(biāo)層位的時間t₁；步驟3，通過時深數(shù)據(jù)使用最小絕對值距離來精確匹配到達(dá)該深度所需的時間t₂；步驟4，比較t₁和t₂的大小，當(dāng)t₂≥t₁時，此時的平面坐標(biāo)X、Y即斜井在目標(biāo)層位的真實(shí)坐標(biāo)。

本發(fā)明的目的還可通過如下技術(shù)措施來實(shí)現(xiàn)：

在步驟1中，通過井?dāng)?shù)據(jù)獲取斜井W的井眼坐標(biāo)X、Y，通過井斜數(shù)據(jù)獲取當(dāng)前采樣點(diǎn)的偏移量，計(jì)算該樣點(diǎn)更新后的斜井平面坐標(biāo)X、Y及累積垂深，坐標(biāo)更新公式如下：

X＝X+DN

Y＝Y(jié)+DE

DN表示坐標(biāo)在正北方向的變化量，DE表示坐標(biāo)在正東方向的變化量。

在步驟2中，通過步驟1獲得當(dāng)前采樣點(diǎn)更新后的斜井平面坐標(biāo)X、Y，在此基礎(chǔ)上通過層位數(shù)據(jù)使用最小絕對值距離來精確匹配更新后的X、Y對應(yīng)目標(biāo)層位的地震道，進(jìn)而獲得該地震道到達(dá)目標(biāo)層位的時間t₁，其中絕對值距離公式如下：

設(shè)m個指標(biāo)，X₁，X₂，…，X_n為n個樣品，記X_i＝(x_i1，x_i2，…，x_im)，i＝1，2，…，n.d_ij為X_i與X_j之間的距離；上述公式為絕對值距離的通用公式，本發(fā)明匹配地震道的最小絕對值距離公式為：