[發明專利]一種基于語義概念的軟件缺陷檢索和分析系統及方法

有效

• 申請號: 201811285850.5
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109299381B
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 張濤;張子昂
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G06F16/9535
• 分類號: G06F16/9535;G06F16/245;G06F8/41
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211
• 代理人: 安琪

本發明提出了一種基于語義概念的軟件缺陷檢索和分析系統及方法，屬于軟件工程技術領域。所述系統和方法包括分類模塊、語義概念模塊和用戶反饋模塊，以及其對應的步驟實現了軟件缺陷檢索和分析。提高了檢索和分析的效率，使得開發人員和用戶可以由此找到相關的軟件缺陷和合適的解決方案。

技術領域

本發明涉及一種基于語義概念的軟件缺陷檢索和分析系統及方法，屬于軟件工程技術領域。

背景技術

近年來，大量軟件被快速開發。特別地，為了滿足社會需求，規模更大，更加復雜的軟件被設計了出來。同時，許多軟件缺陷也隨之出現。有時，這些缺陷導致了代價極大的停機時間。很顯然，軟件缺陷所造成的危害是不可估量的，所以，在軟件開發和測試階段必須對合適的軟件缺陷進行檢索和分析。為了完成檢索和分析相關軟件缺陷的任務，許多軟件缺陷勘察和分析的模型與方法已經被提出。然而，它們對于缺陷檢索的精確度都不高，使用缺陷檢索開發者反而需要做更多的工作。除此之外，這些模型與方法沒有考慮到開發人員與使用者的評論。

發明內容

本發明為了解決上述現有技術中缺乏在軟件開發和測試階段的軟件缺陷檢索和分析的技術問題，提出了一種基于語義概念的軟件缺陷檢索和分析系統及方法，所采取的技術方案如下：

一種基于語義概念的軟件缺陷檢索和分析系統，所述系統包括：

用于將標簽進行分類的分類模塊；其中，所述標簽為用于標記軟件缺陷的關鍵詞；

用于幫助用戶和開發人員檢索標簽和解決方案信息的語義概念模塊；

用于管理并存儲用戶反饋信息，同時記錄使用者信息的用戶反饋模塊；

所述分類模塊包括：

用于開發人員產生軟件缺陷和所述軟件缺陷對應的解決方案的軟件缺陷及解決方案產生模塊；

用于通過大眾分類法對所述軟件缺陷和所述軟件缺陷對應的解決方案進行標記的標記模塊；

用于根據所述標簽將所述軟件缺陷分為不同類型并獲得缺陷種類的缺陷分類模塊；

所述語義概念模塊包括：

用于通過余弦相似度算法生成一顆添加有語義概念模型的標簽樹的標簽樹模塊；其中，所述語義概念模型包括標簽和相關語義概念，所述語義概念模型用于描述標簽和相關語義概念之間的關系；

用于接收用戶查詢請求的用戶查詢模塊；

用于通過用戶所輸入的查詢請求，根據所述相關語義概念向用戶推薦所述標簽的標簽推薦模塊；

所述用戶反饋模塊包括：

用于用戶進行結果評估、評分并提出評論的評估模塊；

用于管理用戶反饋信息的反饋信息管理模塊；

用于儲存用戶反饋信息的反饋信息儲存模塊；

用于記錄用戶的使用者信息的使用者信息記錄模塊。

進一步地，所述系統還包括：

用于客戶輸入包含標簽和端面信息問題的客戶輸入模塊；

用于顯示軟件缺陷報告的顯示模塊；

用于將用于輸入的關鍵詞和端面信息與數據庫中已有的數據進行匹配的數據匹配模塊；其中，端面信息包括種類、語言和缺陷描述；

用于將所述標簽與所述軟件缺陷和解決方案建立關聯的關聯建立模塊。

進一步地，所述余弦相似度算法的計算模型為：