[發(fā)明專利]一種用于晶閘管電子板老化試驗的裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811285654.8
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN111123067A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉道民;朱寧輝;高巖;張彬;王海龍;王蓓蓓;汪權(quán);袁洪亮
• 申請（專利權(quán)）人: 中電普瑞科技有限公司;南瑞集團有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京安博達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

1.一種用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，可對多個二合一晶閘管電子板進行測試，所述裝置包括：閥控制設(shè)備和至少一個包括兩只正反向并聯(lián)晶閘管的晶閘管閥層；所述晶閘管閥層的數(shù)量為被測晶閘管電子板的數(shù)量減1；

每個所述晶閘管閥層的兩只晶閘管分別與相鄰的兩個被測晶閘管電子板并聯(lián)；

所述閥控制設(shè)備通過光纖與每個被測晶閘管電子板連接，并向所述每個被測晶閘管電子板發(fā)送觸發(fā)信號；所述每個被測晶閘管電子板基于所述觸發(fā)信號觸發(fā)與所述每個被測晶閘管電子板連接的兩個晶閘管；

基于所述晶閘管的導(dǎo)通情況確定所述每個被測晶閘管電子板是否存在故障。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，還包括多個直流均壓電阻；所述直流均壓電阻與每個被測晶閘管電子板串聯(lián)，用于確保每層晶閘管端電壓相同。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，

多個晶閘管閥層串聯(lián)組成晶閘管閥組；

多個晶閘管閥組并聯(lián)組成晶閘管閥串。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，每個所述晶閘管閥組中，包括：首端晶閘管閥層、中間晶閘管閥層和尾端晶閘管閥層；所述中間晶閘管閥層包括從第二至倒數(shù)第二的晶閘管閥層；

所述首端晶閘管閥層的正向/反向晶閘管連接第一被測晶閘管電子板，所述首端晶閘管閥層的反向/正向晶閘管連接第二被測晶閘管電子板；

所述中間晶閘管閥層的兩個晶閘管分別連接從第二被測晶閘管電子板開始的兩個相鄰被測晶閘管電子板；

所述尾端晶閘管閥層的反向/正向晶閘管連接倒數(shù)第一被測晶閘管電子板；所述尾端晶閘管閥層中的正向/反向晶閘管連接倒數(shù)第二被測晶閘管電子板。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，所述基于所述晶閘管的導(dǎo)通情況確定所述每個被測晶閘管電子板是否故障，包括：

基于每個晶閘管閥組回路電流波形是否正常，判斷所述晶閘管閥組中是否存在未正常觸發(fā)的晶閘管；

根據(jù)判斷結(jié)果，確定所述晶閘管閥組中存在故障的被測晶閘管電子板。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，所述基于每個晶閘管閥組回路電流波形是否正常，判斷所述晶閘管閥組中是否存在未正常觸發(fā)的晶閘管，包括：

當(dāng)所述晶閘管閥組回路電流波形與輸入電流波形一致時，所述晶閘管閥組中不存在未正常觸發(fā)的晶閘管；

當(dāng)所述晶閘管閥組回路無電流波形或只有一半波形時，所述晶閘管閥組中存在未正常觸發(fā)的晶閘管。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，所述根據(jù)判斷結(jié)果，確定所述晶閘管閥組中存在故障的被測晶閘管電子板，包括：

當(dāng)所述晶閘管閥組中存在未正常觸發(fā)的晶閘管時，依次短接所述晶閘管閥組中各個晶閘管陰極陽極兩端；

每短接一個晶閘管，閥控制設(shè)備發(fā)送一次觸發(fā)信號，并檢測觸發(fā)后所述晶閘管閥組的回路電流是否輸入電流波形一致；

當(dāng)所述晶閘管閥組的回路電流與輸入電流波形一致時，確定所述短接的晶閘管連接的被測晶閘管電子板存在故障。