[發明專利]一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法

在審

• 申請號: 201811283351.2
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109431502A
• 公開（公告）日: 2019-03-08
• 發明（設計）人: 劉學峰;焦雅
• 申請（專利權）人: 湖北器長光電股份有限公司
• 主分類號: A61B5/05
• 分類號: A61B5/05
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，包括：太赫茲源，其特征在于，所述太赫茲源發射的太赫茲波入射到太赫茲起偏器上，偏振的太赫茲波入射到成一定角度的太赫茲分光鏡后，一部分反射到與計算機控制系統輸入端相連接的第一太赫茲探測器，一部分透射的太赫茲波作為生物體淺層組織樣品檢測時的入射光，依次經過第一太赫茲非球面透鏡、放置生物體淺層組織樣品的全反射棱鏡、1/4波片、檢偏器、第二太赫茲非球面透鏡，最終入射到與計算機控制系統輸入端相連接的第二太赫茲探測器；全反射棱鏡固定于二維移動平臺上，計算機控制系統接收第一太赫茲探測器與第二太赫茲探測器所接收到的數據及二維移動掃描平臺的移動信息。

2.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述太赫茲源發射的太赫茲波的頻率范圍為0.3THz—3THz。

3.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述太赫茲源發射的太赫茲波經太赫茲起偏器進行偏振態的調制，該起偏模塊由計算機控制的中空電機帶動起偏器轉動來實現。

4.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述二維移動平臺由計算機控制系統控制，通過帶動全反射棱鏡沿y和z方向二維掃描，實現生物體淺層組織樣品表面成像。

5.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述全發射棱鏡的上表面中心處于太赫茲波經第一太赫茲透鏡聚焦的焦點處。

6.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述生物體淺層組織樣品緊貼全反射棱鏡。

7.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述太赫茲分光鏡反射的太赫茲波作為檢測的參考光以降低噪聲，其被第一太赫茲探測器接收；透射的太赫茲波作為檢測時的入射光，經全反射棱鏡、1/4波片、檢偏器后被第二太赫茲探測器接收。

8.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述波片起到相位延遲的作用，波片的材料采用晶體，即雙折射材料。

9.根據權利要求1所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述計算機控制系統將第二太赫茲探測器的信號除以第一太赫茲探測器的信號作為含有樣品信息的太赫茲信號；若太赫茲波的功率相對穩定，第二太赫茲探測器可以省略，直接將第一太赫茲探測器的信號作為含有樣品信息的太赫茲信號。

10.根據權利要求9所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述計算機控制系統將第二太赫茲探測器的信號除以第一太赫茲探測器的信號作為含有背景信息的太赫茲信號；若太赫茲波的功率相對穩定，第二太赫茲探測器可以省略，直接將第一太赫茲探測器的信號作為含有背景信息的太赫茲信號。

11.根據權利要求10所述的一種通過太赫茲偏振參數成像方法檢測生物體淺層組織的裝置及方法，其特征在于，所述計算機控制系統將含有樣品信息的太赫茲信號除以含有背景信息的太赫茲信號，獲取不同位置處生物體淺層組織樣本對太赫茲波的反射與衰減程度。