[發明專利]一種提高表面增強激光誘導擊穿光譜探測靈敏度的制樣方法

在審

• 申請號: 201811282606.3
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109557082A
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 楊新艷;崔執鳳;姚關心;鄭賢鋒;盛曉偉;黃靜春;劉小明;俞碩;周正仙
• 申請（專利權）人: 安徽師范大學
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N1/34
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種提高表面增強激光誘導擊穿光譜探測靈敏度的制樣方法，其特征在于，該方法采用原位多次制樣輔助表面增強激光誘導擊穿光譜（SENLIBS）技術，即在第一次制備的圓形分析層范圍內循環多次滴加待測液滴，并進行干燥，增加了固定面積內的待測元素的濃度，提高了目標元素光譜強度，降低了SENLIBS技術對待測元素的檢測極限，提高了SENLIBS技術的探測靈敏度。

2.根據權利要求1所述的一種提高表面增強激光誘導擊穿光譜靈敏度的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

（1）將表面放置有濾紙圓片的襯底放在恒溫板上加熱，其中濾紙圓片的直徑為D；

（2）待襯底表面溫度達到平衡之后，利用移液槍移取一定體積的待測溶液，滴在濾紙表面，干燥后，在襯底表面獲得含有待測元素的固體分析層Ⅰ₁；

（3）待液體干燥后，按照步驟1-2重復n-1次制樣；

（4）將濾紙移除，即可在襯底表面獲得重復n次制樣，且直徑為D的分析層Ⅰ_n。

3.根據權利要求1-2任一項所述的一種提高表面增強激光誘導擊穿光譜靈敏度的方法，其特征在于，該方法主要具備以下技術特點和優勢：

（1）本發明方法從制樣方式入手，采用原位多次制樣的預處理方法，從源頭上增大了固定范圍內待測元素的濃度，提高了待測元素的LIBS光譜強度，降低了SENLIBS技術對待測元素的檢測極限，即提高了SENLIBS技術的探測靈敏度；

（2）本發明方法相對于現有的液-液萃取預處理方法，無需輔助額外的萃取試劑，制樣流程簡單，無需專業人員操作；

（3）本發明方法相對于現有的化學置換預處理方法，不僅適用于活性離子，而且適用于惰性離子，普適性更強。