[發明專利]一種統一存儲陣列智能功耗測試系統

在審

• 申請號: 201811279318.2
• 申請日: 2018-10-30
• 公開（公告）號: CN109387792A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 華要宇
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40;G01R31/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種統一存儲陣列智能功耗測試系統，用于對統一存儲陣列進行功耗測試，包括：測試接口單元，用于連接供電模塊、智能測試系統和統一存儲陣列；智能測試系統，用于測試統一存儲陣列各階段功率及供電電流；供電模塊，用于提供電源；人機交互界面，用于顯示測試過程及測試結果，人機交互界面包括觸摸屏LCD。本發明公開的統一存儲陣列智能功耗測試系統，設計供電模塊與統一存儲陣列轉接測試接口，提高測試效率。設計友好的人機交互界面，跟據不同存儲陣列機型進行測試參數設定。準確測試記錄備份電池模塊各階段功耗、供電電流，并對測試結果分類匯總，方便后續統計查詢匯總。

技術領域

本發明涉及存儲技術領域，尤其涉及一種統一存儲陣列智能功耗測試系統。

背景技術

在云計算時代，對電源模塊、備份電池模塊選型匹配測試提出更高的要求。現有功率計進行功耗測試，沒有針對性轉接測試接口，測試操作非常繁瑣，浪費大量人力物力。備份電池供電各階段功耗、供電電流測試誤差較大。不能滿足存儲陣列設計選型、匹配測試驗證需求。

基于上述問題，因此，對于本領域技術人員而言，如何實現統一存儲陣列功耗測試的高效化，是亟需解決的技術問題。

發明內容

基于背景技術存在的技術問題，本發明提出了一種統一存儲陣列智能功耗測試系統，設計供電模塊與統一存儲陣列轉接測試接口，提高測試效率。設計友好的人機交互界面，跟據不同存儲陣列機型進行測試參數設定。準確測試記錄備份電池模塊各階段功耗、供電電流，并對測試結果分類匯總，方便后續統計查詢匯總。統一存儲陣列功耗智能測試系統，滿足統一存儲陣列電源模塊/備電模塊匹配選型、匹配驗證需求，縮短了開發周期，取得了事半功倍的效果。

本發明提出的一種統一存儲陣列智能功耗測試系統，用于對統一存儲陣列進行功耗測試，包括：

測試接口單元，用于連接供電模塊、智能測試系統和統一存儲陣列；

智能測試系統，用于測試統一存儲陣列各階段功率及供電電流；

供電模塊，用于提供電源；

人機交互界面，用于顯示測試過程及測試結果，人機交互界面包括觸摸屏LCD。

優選地，還包括：PC通訊接口，用于人機交互界面與智能測試系統進行通訊。

優選地，智能測試系統將測試結果進行分類。

優選地，人機交互界面還用于根據測試機型進行測試參數設定和存儲測試結果設定。

優選地，智能測試系統包括：

采樣信號處理線路，包括信號處理電路和鉗位電路，其中，信號處理電路用于把采樣信號處理成單片機AD采樣匹配信號，鉗位電路用于信號異常是保護單片機采樣I/O口；

中央處理器系統，包括單片機、時鐘電路和復位電路；

通訊接口保護電路，用于異常情況下保護單片機通訊口、LCD屏通訊接口。

優選地，中央處理器系統中包含統一存儲陣列功耗測試參數智能設定算法、智能采樣算法、測試結果智能處理算法。