[發(fā)明專利]X射線熒光光譜法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201811279041.3
• 申請日: 2018-10-30
• 公開（公告）號: CN109324074A
• 公開（公告）日: 2019-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄧興民;王玉明;鄭亮;劉超
• 申請（專利權(quán)）人: 湖南航天磁電有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 長沙星耀專利事務(wù)所(普通合伙) 43205
• 代理人: 寧星耀;寧岡

1.X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）制備標(biāo)準(zhǔn)樣片：用已知各成分含量的鍶永磁鐵氧體粉末經(jīng)烘干過篩處理后用壓樣機(jī)壓制成一組各成分含量具有梯度的標(biāo)準(zhǔn)樣片；

（2）設(shè)置測試條件、測定條件：設(shè)置各成分對應(yīng)元素的基礎(chǔ)測試條件、測定條件，所述的基礎(chǔ)測試條件包括：測定譜線、分光晶體、電流、電壓、測量時間、峰位角，所述的測定條件包括光管電壓、光管電流、濾片、衰減器；

（3）建立標(biāo)樣曲線：采用X射線熒光光譜儀在步驟（2）所設(shè)置的基礎(chǔ)測試條件下測定步驟（1）所制標(biāo)準(zhǔn)樣片各成分的X熒光強(qiáng)度，利用所得的各成分X熒光強(qiáng)度與已知成分含量值對應(yīng)，經(jīng)校準(zhǔn)和扣除干擾后，線性回歸建立線性標(biāo)樣曲線，保存于X射線熒光光譜儀中；

（4）試樣成分測定：將待測試樣粉末經(jīng)烘干過篩處理后用壓樣機(jī)壓制成試樣樣片，采用X射線光譜儀測定試樣各成分X熒光強(qiáng)度，根據(jù)步驟（3）建立的標(biāo)樣曲線，由儀器自動測算出待測樣品中各成分的含量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1 所述X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，所述鍶永磁鐵氧體待檢測含量的化學(xué)成分包括Fe₂O₃、SrO、BaO、CaO、SiO₂、Al₂O₃、Cr₂O₃、La₂O₃和Co₂O₃。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，步驟（1）和（4）烘干過篩處理的條件相同，皆為在105℃～110℃干燥2h后過100～300目篩。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3之一所述X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，步驟（1）和步驟（4）中所述壓片機(jī)壓制條件相同，壓力為20～50t，保壓時間為30～60s。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～4之一所述X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，步驟（1）和步驟（4）中所述一組各成分含量具有梯度的標(biāo)準(zhǔn)樣片個數(shù)為3～20個。

6.根據(jù)權(quán)利要求1～5之一所述X射線熒光法測定鍶永磁鐵氧體成分含量的方法，其特征在于，步驟（1）和（4）所述樣片表面吹掃干凈，均勻平整、無破裂。