[發(fā)明專利]一種射頻天線駐波自檢測方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811277030.1
• 申請日: 2018-10-30
• 公開（公告）號: CN109406885A
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳俊杰;權(quán)振;王子愷
• 申請（專利權(quán)）人: 南京比鄰智能識別技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R27/06;G01R29/10
• 代理公司: 南京禾易知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32320
• 代理人: 仇波

1.一種射頻天線駐波自檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1，檢測發(fā)射信號的發(fā)射功率和天線回波的回波功率；

S2，根據(jù)發(fā)射功率和回波功率計算回波損耗；

S3，根據(jù)回波損耗與反射系數(shù)的關(guān)系式計算反射系數(shù)；

S4，根據(jù)反射系數(shù)計算駐波值，通過駐波值與設(shè)定值對比，判斷天線的狀態(tài)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻天線駐波自檢測方法，其特征在于，根據(jù)以下公式計算發(fā)射功率和回波功率：發(fā)射功率P1=R1+V1*S，回波功率P2=R2+V2*S，其中，R1為第一衰減器的衰減值，R2為第二衰減器的衰減值，V1為發(fā)射功率檢波管電壓，V2為回波功率檢波管電壓，S為檢波管系數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻天線駐波自檢測方法，其特征在于，所述回波損耗為發(fā)射功率和回波功率的比值，回波損耗RL=發(fā)射功率P1-回波功率P2。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻天線駐波自檢測方法，其特征在于，根據(jù)反射系數(shù)與回波損耗的關(guān)系式計算反射系數(shù)K：回波損耗RL=20｜LogK｜。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻天線駐波自檢測方法，其特征在于，根據(jù)反射系數(shù)K的值計算駐波值，駐波VSWR=（1+K）/（1-K），當(dāng)駐波值小于設(shè)定值時，則判定天線狀態(tài)正常，當(dāng)駐波值大于設(shè)定值時，則判定天線狀態(tài)異常。

6.一種射頻天線駐波自檢測系統(tǒng)，其特征在于：包括調(diào)制器、功率放大器、耦合器、衰減器、對數(shù)檢波管、ADC采樣芯片、處理器和天線，所述衰減器包括第一衰減器和第二衰減器，所述對數(shù)檢波管包括第一對數(shù)檢波管和第二對數(shù)檢波管，所述ADC采樣芯片包括第一ADC采樣芯片和第二ADC采樣芯片，所述調(diào)制器通過驅(qū)動放大鏈路匹配網(wǎng)絡(luò)連接功率放大器，所述功率放大器連接耦合器，所述耦合器通過發(fā)射鏈路匹配網(wǎng)絡(luò)連接天線，所述耦合器、第一衰減器、第一對數(shù)檢波管、第一ADC采樣芯片依次相連，所述耦合器、第二衰減器、第二對數(shù)檢波管、第二ADC采樣芯片依次相連，所述第一ADC采樣芯片和第二ADC采樣芯片連接處理器。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的射頻天線駐波自檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述耦合器選用10dB的耦合器，在發(fā)射鏈路中，功率放大器經(jīng)耦合器至第一衰減器為10dB的衰減，功率放大器經(jīng)耦合器至第二衰減器為30dB的衰減；在反射鏈路中，天線通過發(fā)射鏈路匹配網(wǎng)絡(luò)經(jīng)耦合器至第一衰減器為30dB的衰減，天線通過發(fā)射鏈路匹配網(wǎng)絡(luò)經(jīng)耦合器至第二衰減器為10dB的衰減。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的射頻天線駐波自檢測系統(tǒng)，其特在在于：所述調(diào)制器用于射頻信號的發(fā)射并將射頻頻率控制在840M~960M。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的射頻天線駐波自檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述第一對數(shù)檢波管和第二對數(shù)檢波管為同一型號的線性檢波管，包括發(fā)射功率檢波管和回波功率檢波管。