[發明專利]多波束測深儀模擬校準裝置

有效

• 申請號: 201811275671.3
• 申請日: 2018-10-30
• 公開（公告）號: CN109444860B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 王俊;張廣民;梁盛;盧大新;吳新峰;吉斌;張躍進
• 申請（專利權）人: 泰州市計量測試院
• 主分類號: G01S7/52
• 分類號: G01S7/52;G01C25/00
• 代理公司: 北京潤川律師事務所 11643
• 代理人: 張超;李奎鋒

1.多波束測深儀模擬校準裝置，包括水槽(1)，其特征在于，所述模擬校準裝置，還包括反射體(2)、測試機構(4)、機械傳動機構(5)、計算機，所述水槽(1)呈矩形槽狀結構，所述反射體(2)設置在所述水槽(1)的一端，所述測試機構(4)設置在所述水槽(1)的另一端，所述機械傳動機構(5)設置在所述水槽(1)外，所述計算機與所述測試機構(4)和所述機械傳動機構(5)連接；所述計算機能根據其預設程序自動控制所述測試機構(4)和所述機械傳動機構(5)，所述測試機構(4)包括固定座(43)、掛置架(42)和多波束測深儀(41)；

所述機械傳動機構(5)包括電機(51)、蝸桿(52)和渦輪(53)，所述渦輪(53)中心連接一段第二連接桿，所述第二連接桿非連接所述渦輪(53)的一端為第二自由端，所述第二自由端的端點處固定連接一段五角柱；

所述反射體(2)整體呈一定厚度的“＞”型；所述“＞”型包括上斜邊和下斜邊，上斜邊和下斜邊的夾角為45°～135°；該“＞”型的外側面為正反射面，該“＞”型的內側面為反反射面，該正反射面和反反射面均由多個臺階規律性排列構成，每個臺階的基本要素均相同；

所述正反射面從兩端向中間分布的每個臺階高度遞增；所述反反射面從兩端向中間分布的每個臺階高度遞減；所述正反射面上的所述臺階的基本要素和所述反反射面上的所述臺階的基本要素相同。

2.根據權利要求1所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述水槽(1)寬度不小于所述多波束測深儀(41)的輻射寬度，所述多波束測深儀(41)的輻射寬度由所述多波束測深儀(41)與所述反射體(2)的距離確定。

3.根據權利要求1所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述水槽(1)長度方向一端的兩側水槽壁上各設置一條軌道槽，所述軌道槽從所述水槽(1)的槽口向下固定設置，所述軌道槽的底端封堵，位于所述軌道槽的下部，并且指向水槽壁方向開設有一個貫穿于所述軌道槽和水槽壁的孔。

4.根據權利要求1所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述掛置架(42)呈多齒叉形狀，多齒叉根部與所述固定座(43)連接，所述多齒叉的多個齒尖各連接一個所述多波束測深儀(41)，多個所述多波束測深儀(41)相互間獨立，多個所述多波束測深儀(41)分別于所述計算機連接，并且，所述多波束測深儀(41)分別受控于所述計算機。

5.根據權利要求3所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述水槽(1)長度方向非設置所述軌道槽一端，固定設置有橫跨所述水槽(1)的固定桿。

6.根據權利要求3或5任一項所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述反射體(2)兩端端點中心處各連接一段第一連接桿，所述第一連接桿非連接所述反射體(2)的一端為第一自由端，所述第一自由端的所述第一連接桿中心開設有五角形槽孔，所述五角形槽內能夠插入所述五角柱，并且所述五角柱與所述五角形槽嚙合；每個所述第一連接桿的第一自由端嵌套有一個軸承，所述軸承外嵌套有方形軸承襯套，所述軸承襯套能夠嚙合放入所述軌道槽內。

7.根據權利要求5所述的多波束測深儀模擬校準裝置，其特征在于，所述固定座(43)固定設置在所述固定桿上，所述固定座(43)下部連接有所述掛置架(42)。