[發明專利]一種電子元件移動測試裝置

有效

• 申請號: 201811275041.6
• 申請日: 2018-10-30
• 公開（公告）號: CN109459632B
• 公開（公告）日: 2021-08-06
• 發明（設計）人: 陳詩莊
• 申請（專利權）人: 泗陽縣銘鑫電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 安徽盟友知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 34213
• 代理人: 周榮

本發明公開了一種電子元件移動測試裝置，本發明通過改進設備的部分結構，使其上的延遲回位機構受到電子元件的推動，能夠對電源進行控制，使電源在延遲一段時間后進行通電，有效的防止了在通電的情況下，將電子元件插在檢測槽上，導致接觸不良而產生電火花，從而對設備造成損壞，同時溫度檢測組件能夠在設備檢測到損壞的電子元件的時，造成短路溫度夠過高而導致設備損壞之前，控制斷電保護組件進行斷電，保護檢測槽的零件，其結構包括檢測鏡、焊接塊、移動轉盤、底座、轉動銜接塊、支撐柱、測試裝置，檢測鏡位于焊接塊的正上方，測試裝置的底端與移動轉盤的頂端相焊接，底座位于移動轉盤的正下方，底座的頂端設有轉動銜接塊，并且二者活動連接。

技術領域

本發明涉及電子測試設備領域，尤其是涉及到一種電子元件移動測試裝置。

背景技術

電子元件移動測試裝置是對電子元件功能進行檢測的一種設備，通過對電子元件提供電源檢測電子元件工作時的狀態，為其出廠做好準備，但是現有設備在進行檢測使用的時候，電子元件在插入檢測槽進行通電檢測的時候，如在未完全插好吻合或者未關閉連接電源的狀態下進行通電，易造成連接處接觸不良，從而產生高溫電弧，會電子元件造成損壞，同時在檢測的時候，如電子元件本身不符合，極易在通電檢測的時候造成電子元件電壓過高，溫度驟升，而對檢測連接處造成損壞。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明是通過如下的技術方案來實現：一種電子元件移動測試裝置，其結構包括檢測鏡、焊接塊、移動轉盤、底座、轉動銜接塊、支撐柱、測試裝置，所述檢測鏡位于焊接塊的正上方，所述測試裝置的底端與移動轉盤的頂端相焊接，所述底座位于移動轉盤的正下方，所述底座的頂端設有轉動銜接塊，并且二者活動連接，所述支撐柱的底端與轉動銜接塊的頂端相焊接，所述焊接塊的底端與支撐柱的頂端相焊接，所述測試裝置包括延遲回位機構、受壓組件、檢測組件、溫度檢測組件、斷電保護組件、轉動機構、外殼，所述延遲回位機構的右端與受壓組件的左端相焊接，所述檢測組件位于轉動機構的正上方，所述溫度檢測組件的嵌入安裝在檢測組件上，并且二者相焊接，所述斷電保護組件的頂端與溫度檢測組件的底端相焊接，所述轉動機構垂直嵌入在外殼底端的中部。

作為本技術方案的進一步優化，所述延遲回位機構包括推氣機構、電源控制機構，所述推氣機構的底端通過銜接桿與電源控制機構的頂端活動連接，所述推氣機構包括出氣口、下壓推板、推板連接桿、第二焊接塊、彈簧、卡塊、推氣塊，所述出氣口設于推氣塊的左端，并且二者為一體化結構，所述下壓推板的底端與推板連接桿的頂端相焊接，所述第二焊接塊的頂端與推板連接桿的底端相焊接，所述彈簧環繞安裝在推板連接桿上，并且二者活動連接，所述卡塊的與推氣塊的內端相焊接。

作為本技術方案的進一步優化，所述電源控制機構包括轉動連接塊、固定塊、平移輪、電阻連接塊、電阻器、變阻鉤、銜接桿，所述轉動連接塊的右端與變阻鉤的左端相焊接，所述固定塊的頂端設有平移輪，并且二者活動連接，所述平移輪設于變阻鉤的底端，并且二者活動連接，所述電阻連接塊設于電阻器的左右兩端，并且二者為一體化結構，所述銜接桿的右端嵌入安裝在轉動連接塊的中部，并且二者鉸鏈連接。

作為本技術方案的進一步優化，所述受壓組件包括導向輪連接塊、推氣閥塊、推氣口、下壓桿、緩沖彈簧、卡槽、水平桿、導向輪、L型固定架，所述L型固定架的水平部分頂端與導向輪連接塊的底端相焊接，所述推氣閥塊位于L型固定架的正下方，所述推氣口設于推氣閥塊的左端，并且二者為一體化結構，所述下壓桿垂直嵌入在推氣閥塊的頂端中部，所述緩沖彈簧環繞安裝在下壓桿上，并且二者活動連接，所述卡槽設于水平桿的頂端，并且二者為一體化結構，所述導向輪水平嵌入在導向輪連接塊的右端，并且二者活動連接。

作為本技術方案的進一步優化，所述檢測組件包括連接桿、放置臺、接電塊、絕緣板，所述連接桿的底端與放置臺的頂端相焊接，所述接電塊設于放置臺的中部底端，并且二者為一體化結構，所述絕緣板的頂端與放置臺的底端相焊接。