[發明專利]像素檢查方法、像素檢查裝置、顯示裝置有效
| 申請號： | 201811270687.5 | 申請日： | 2018-10-29 |
| 公開（公告）號： | CN109949724B | 公開（公告）日： | 2022-03-29 |
| 發明（設計）人： | 春原英明 | 申請（專利權）人： | 夏普株式會社 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人： | 汪飛亞;習冬梅 |
| 地址： | 日本國大*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 像素 檢查 方法 裝置 顯示裝置 | ||
1.一種像素檢查方法，其在按每多個像素具備多個像素信號線的顯示裝置中，對連接于各所述像素信號線的檢查用晶體管實施控制而進行檢查用數據信號向各所述像素信號線的輸入，所述像素檢查方法的特征在于，具備：
開關信號施加工序，對所述檢查用晶體管的柵電極施加開關信號；和
檢查用數據信號施加工序，對所述檢查用晶體管的源電極施加所述檢查用數據信號，
通過所述開關信號和所述檢查用數據信號，進行向所述柵電極施加的施加電壓的控制，
通過在所述柵電極與所述像素信號線之間形成電容，從而進行所述施加電壓的控制。
2.一種像素檢查方法，其在按每多個像素具備多個像素信號線的顯示裝置中，對連接于各所述像素信號線的檢查用晶體管實施控制而進行檢查用數據信號向各所述像素信號線的輸入，所述像素檢查方法的特征在于，具備：
開關信號施加工序，對所述檢查用晶體管的柵電極施加開關信號；和
檢查用數據信號施加工序，對所述檢查用晶體管的源電極施加所述檢查用數據信號，
通過所述開關信號和所述檢查用數據信號，進行向所述柵電極施加的施加電壓的控制，
通過在所述柵電極與所述源電極之間形成電容，從而進行所述施加電壓的控制。
3.一種像素檢查裝置，其在按每多個像素具備多個像素信號線的顯示裝置的檢查中，進行檢查用數據信號向各所述像素信號線的輸入，所述像素檢查裝置的特征在于，具備：
檢查用晶體管，其漏電極連接于所述像素信號線；
開關信號線，其與所述檢查用晶體管的柵電極連接；以及
檢查信號線，其與所述檢查用晶體管的源電極連接，
通過施加于所述開關信號線的開關信號、和施加于所述檢查信號線的所述檢查用數據信號，進行向所述柵電極施加的施加電壓的控制，
在所述柵電極與所述像素信號線之間具備電容器。
4.一種像素檢查裝置，其在按每多個像素具備多個像素信號線的顯示裝置的檢查中，進行檢查用數據信號向各所述像素信號線的輸入，所述像素檢查裝置的特征在于，具備：
檢查用晶體管，其漏電極連接于所述像素信號線；
開關信號線，其與所述檢查用晶體管的柵電極連接；以及
檢查信號線，其與所述檢查用晶體管的源電極連接，
通過施加于所述開關信號線的開關信號、和施加于所述檢查信號線的所述檢查用數據信號，進行向所述柵電極施加的施加電壓的控制，
在所述柵電極與所述源電極之間具備電容器。
5.一種顯示裝置，其特征在于，具備：
權利要求3或4所述的像素檢查裝置。
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