[發明專利]一種高精度姿態變化量測量方法

有效

• 申請號: 201811268599.1
• 申請日: 2018-10-29
• 公開（公告）號: CN109186639B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 劉偉;劉旭;李彥征;王興全
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七0七研究所
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 王倩

1.一種高精度姿態變化量測量方法，包括以下步驟：

a)于緩沖基座底板艏艉向和側向的側立面安裝兩個平面反射鏡，兩鏡面法線正交；參考緩沖基座底板，于緩沖基座頂板的相同位置安裝兩個平面反射鏡，兩鏡面法線正交；

b)將緩沖基座置于可調平平板或千斤頂上，以自準直經緯儀依次照準緩沖基座底部兩正交鏡面，該自準直經緯儀為第一臺自準直經緯儀，根據第一臺自準直經緯儀水平示數將緩沖基座置平，測量兩鏡面法線的水平傾角并記錄；

c)將第一臺自準直經緯儀架設在緩沖基座首尾向，照準底板的平面反射鏡；在能夠與第一臺經緯儀互瞄，且能夠照準底板側向平面反射鏡的位置架設第二臺自準直經緯儀，位置確定后于地面設置標識，保證設備定點使用；

d)在距離兩臺自準直經緯儀五米以外架設第三臺自準直經緯儀作為測角基準，第一臺和第二臺測量用自準直經緯儀依次與第三臺自準直經緯儀互瞄，完成坐標系取齊；互瞄過程中第三臺自準直經緯儀作為焦距基準，測量過程中焦距不得調整；自準直經緯儀互瞄時首先以望遠鏡狀態對準目標經緯儀內覘標，確保光路軸線對準；

e)第一臺和第二臺自準直經緯儀分別測量各自方向上的底板平面反射鏡、頂板平面反射鏡，由于頂板、底板的平面反射鏡存在高度差，第一臺自準直經緯儀和第二臺自準直經緯儀均需重新架設，架設后必須同第三臺自準直經緯儀互瞄，完成坐標系取齊和焦距取齊；

f)自準直經緯儀互瞄后，第一臺和第二臺自準直經緯儀照準鏡面時均正、倒向讀兩次數據后求均值，消除儀器誤差；

g)測量過程中，根據設備底部兩正交鏡面的測量值是否與初始測量值吻合檢查測量重復精度。

2.根據權利要求1所述的一種高精度姿態變化量測量方法，其特征在于：步驟a)中，緩沖基座底板所安裝的兩個平面反射鏡的兩鏡面法線正交誤差小于10″；緩沖基座頂板所安裝的兩個平面反射鏡的兩鏡面法線正交誤差小于10″。