[發明專利]一種用于熱分析儀器的冷卻器有效
| 申請號: | 201811267618.9 | 申請日: | 2018-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN109164127B | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發明(設計)人: | 楊莉萍;汪文兵;劉震炎;陶冶 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海硅酸鹽研究所 |
| 主分類號: | G01N25/00 | 分類號: | G01N25/00 |
| 代理公司: | 上海瀚橋專利代理事務所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;鄒蘊 |
| 地址: | 200050 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 分析儀器 冷卻器 | ||
本發明提供一種用于熱分析儀器的冷卻器,包括:中空,且一端封閉為傳冷面、一端開放的導冷件;中空且隔著間隙嵌套于所述導冷件內部的冷媒噴頭;位于所述導冷件的開放的一端側的冷媒入口管和冷媒出口管;以及與所述導冷件的開放的一端、以及與所述冷媒噴頭中遠離所述傳冷面的一端分別密封連接的過渡接頭;所述冷媒噴頭的內壁與所述過渡接頭形成了冷媒內腔;所述冷媒噴頭的外壁與所述導冷件的內壁形成了冷媒外腔;所述冷媒入口管與所述冷媒內腔相連通,所述冷媒出口管與所述冷媒外腔相連通。根據本發明,可快速將冷量傳導給熱分析儀器的爐體,而且通過形成為內外雙層的結構,能大幅度提升制冷效果。
技術領域
本發明涉及一種用于熱分析儀器的冷卻器。
背景技術
目前,熱分析技術是在程序溫度控制下測量物質的物理性質隨溫度的變化,用于研究物質在某一特定溫度時所發生的熱學、力學、聲學、光學、電學、磁學等物理參數的變化,是一種十分重要的分析測試方法。此外,不同的技術方法對應不同的熱分析儀器,但通常熱分析儀器包括溫度控制器、爐體、物理檢測單元、氣氛控制器和數據處理系統等,其中,爐體是熱分析儀器的核心部件,為試樣提供一個測量所需的均溫環境得到支撐。
具體而言,可分為差示掃描量熱法(Differential Scanning Calorimetry;DSC)、差熱分析(Differential Thermal Analysis;DTA)、熱重分析儀(Thermo GravimetricAnalyzer;TGA)、以及動態熱機械分析(Dynamic Thermomechanical Analysis;DMA)等。
差示掃描量熱法中所需的差示掃描量熱儀(以下有時也會簡稱DSC)是上述熱分析儀器的一種,也是應用最廣泛的一種,是使樣品處于程序溫度控制下,觀察樣品和參比物之間熱流差隨溫度或時間變化的測試儀器。另外,磁環境還能對材料的物相形成及性能產生影響,對材料新現象和機理研究具有重要的科學價值。
然而,目前產品性能指標過低,商品化的差示掃描量熱儀大部分沒有低溫區,只有少數有低溫指標,僅在103K以上,同時冷卻速率也低于80K/min,難以滿足市場需求。另外,針對應用于磁環境的差示掃描量熱儀的研究,也幾乎處于起步階段。
發明內容
發明要解決的問題:
針對上述問題,本發明的目的在于提供一種用于熱分析儀器的冷卻器,能實現快速高效的制冷,且在有磁和無磁環境下均能準確測量。
解決問題的技術手段:
本發明提供一種用于熱分析儀器的冷卻器,包括:
中空,且一端封閉為傳冷面、一端開放的導冷件;
中空且隔著間隙嵌套于所述導冷件內部的冷媒噴頭;
位于所述導冷件的開放的一端側的冷媒入口管和冷媒出口管;以及
與所述導冷件的開放的一端、以及與所述冷媒噴頭中遠離所述傳冷面的一端分別密封連接的過渡接頭;
所述冷媒噴頭的內壁與所述過渡接頭形成了冷媒內腔;
所述冷媒噴頭的外壁與所述導冷件的內壁形成了冷媒外腔;
所述冷媒入口管與所述冷媒內腔相連通,所述冷媒出口管與所述冷媒外腔相連通。
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