[發明專利]半導體元件及其制作方法有效
| 申請號: | 201811267036.0 | 申請日: | 2018-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN111106235B | 公開(公告)日: | 2023-07-11 |
| 發明(設計)人: | 王慧琳;許家彰;翁宸毅;謝晉陽;張境尹 | 申請(專利權)人: | 聯華電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H10N50/01 | 分類號: | H10N50/01;H10N50/10;H10N50/80;H10B61/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 元件 及其 制作方法 | ||
本發明公開一種半導體元件及其制作方法,該制作半導體元件的方法為,首先形成一金屬間介電層于一基底上,然后形成一金屬內連線于金屬間介電層內,形成一下電極層于金屬間介電層上,其中下電極層包含一濃度梯度,形成一自由層于下電極層上,形成一上電極層于自由層上,再圖案化該上電極層、該自由層以及該下電極層以形成一磁性隧穿接面(magnetic?tunneling?junction,MTJ)。
技術領域
本發明涉及一種半導體元件及其制作方法,特別是涉及一種磁阻式隨機存取存儲器(Magnetoresistive?Random?Access?Memory,MRAM)及其制作方法。
背景技術
已知,磁阻(magnetoresistance,MR)效應是材料的電阻隨著外加磁場的變化而改變的效應,其物理量的定義,是在有無磁場下的電阻差除上原先電阻,用以代表電阻變化率。目前,磁阻效應已被成功地運用在硬盤生產上,具有重要的商業應用價值。此外,利用巨磁電阻物質在不同的磁化狀態下具有不同電阻值的特點,還可以制成磁性隨機存儲器(MRAM),其優點是在不通電的情況下可以繼續保留存儲的數據。
上述磁阻效應還被應用在磁場感測(magnetic?field?sensor)領域,例如,移動電話中搭配全球定位系統(global?positioning?system,GPS)的電子羅盤(electroniccompass)零組件,用來提供使用者移動方位等資訊。目前,市場上已有各式的磁場感測技術,例如,各項異性磁阻(anisotropic?magnetoresistance,AMR)感測元件、巨磁阻(GMR)感測元件、磁隧穿接面(結)(magnetic?tunneling?junction,MTJ)感測元件等等。然而,上述現有技術的缺點通常包括:較占芯片面積、制作工藝較昂貴、較耗電、靈敏度不足,以及易受溫度變化影響等等,而有必要進一步改進。
發明內容
本發明一實施例揭露一種制作半導體元件的方法。首先形成一金屬間介電層于一基底上,然后形成一金屬內連線于金屬間介電層內,形成一下電極層于金屬間介電層上,其中下電極層包含一濃度梯度,形成一自由層于下電極層上,形成一上電極層于自由層上,再圖案化該上電極層、該自由層以及該下電極層以形成一磁性隧穿接面(magnetictunneling?junction,MTJ)。
本發明另一實施例揭露一種半導體元件,其主要包含一磁性隧穿接面(magnetictunneling?junction,MTJ)設于一基底上,其中該MTJ包含一下電極層且該下電極層包含一濃度梯度、一自由層設于該下電極層上以及一上電極層設于自由層上。
附圖說明
圖1至圖6為本發明一實施例制作一MRAM單元的方式示意圖;
圖7至圖8為本發明一實施例制作半導體元件的方法示意圖。
主要元件符號說明
12?????基底?????????????????????14????MTJ區域
16?????邏輯區域?????????????????18????層間介電層
20?????金屬內連線結構???????????22????金屬內連線結構
24?????金屬間介電層?????????????26????金屬內連線
28?????停止層???????????????????30????金屬間介電層
32?????金屬內連線???????????????34????阻障層
36?????金屬層???????????????????38????圖案化掩模
40?????開口?????????????????????42????凹槽
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