[發明專利]一種漸開線內花鍵磨損量的測具及測量方法

有效

• 申請號: 201811263508.5
• 申請日: 2018-10-28
• 公開（公告）號: CN111102895B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 張宏利;李亞會;緱慶;王健;唐秀娟
• 申請（專利權）人: 國營四達機械制造公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01N3/06;G01N3/56
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 倪金榮

1.一種漸開線內花鍵磨損量的測具，其特征在于：

包括改裝內徑千分尺和標準件；

所述標準件的漸開線內花鍵與被測漸開線內花鍵結構相同，但其齒厚小于標準齒厚且大于工藝要求的剩余齒厚；

所述改裝內徑千分尺的測量范圍大于漸開線內花鍵的分度圓直徑，其桿長大于漸開線內花鍵被測位置的深度；所述改裝內徑千分尺包括三個測量頭；所述測量頭的工作端為球頭，且三個測量頭的球頭的球心位于同一圓周上；所述測量頭的球頭直徑與漸開線內花鍵測量棒的直徑相等；

所述三個測量頭的圓周布局方式為：當齒數為3的倍數時，三個測量頭圓周均布；除此之外的齒數，三個測量頭以適應齒槽位置為原則合理布局。

2.權利要求1所述測具對漸開線內花鍵磨損量的測量方法，其特征在于：包括以下步驟：

1)采用標準件對改裝內徑千分尺調零；

2)將所述改裝內徑千分尺插入被測漸開線內花鍵的齒槽中進行測量；當齒槽數為偶數時，所述改裝內徑千分尺的讀數即為漸開線內花鍵棒間距的變化量△M，當齒槽數為奇數時，將所述改裝內徑千分尺的讀數按照勾股定理換算成漸開線內花鍵棒間距的變化量△M；

3)根據漸開線內花鍵參數、漸開線函數inva計算漸開線內花鍵齒槽寬變化量△S與△M值的比值；由比值和步驟2)中的△M值計算出△S；

4)將標準件的齒厚減去△S值，得到被測漸開線內花鍵的剩余齒厚，獲得被測漸開線內花鍵的磨損情況。

3.一種漸開線內花鍵磨損量的測具，其特征在于：

包括改裝內徑千分尺、標準件和對表件；

所述標準件的漸開線內花鍵與被測漸開線內花鍵結構相同，但其齒厚小于標準齒厚且大于工藝要求的剩余齒厚；

所述改裝內徑千分尺的測量范圍大于漸開線內花鍵的分度圓直徑，其桿長大于漸開線內花鍵被測位置的深度；所述改裝內徑千分尺包括三個測量頭；所述測量頭的工作端為球頭，且三個測量頭的球頭的球心位于同一圓周上；所述測量頭的球頭直徑與漸開線內花鍵測量棒的直徑相等；

所述三個測量頭的圓周布局方式為：當齒數為3的倍數時，三個測量頭圓周均布；除此之外的齒數，三個測量頭以適應齒槽位置為原則合理布局；

所述對表件的結構與標準件的區別是光面的漸開線內花鍵；

所述對表件為環規結構；當改裝內徑千分尺的三個測量頭均接觸齒槽工作面時，三個測量頭頂點所在圓的直徑即為對表件內側光面的內徑。

4.權利要求3所述測具對漸開線內花鍵磨損量的測量方法，其特征在于：包括以下步驟：

1)采用對表件和標準件分別對所述改裝內徑千分尺調零；若標準件和對表件對改裝內徑千分尺調零的誤差大于測量頭的磨損極限時，更換測量頭；

2)將所述改裝內徑千分尺插入被測漸開線內花鍵的齒槽中進行測量；當齒槽數為偶數時，所述改裝內徑千分尺的讀數即為漸開線內花鍵棒間距的變化量△M，當齒槽數為奇數時，將所述改裝內徑千分尺的讀數按照勾股定理換算成漸開線內花鍵棒間距的變化量△M；

3)根據漸開線內花鍵參數、漸開線函數inva計算漸開線內花鍵齒槽寬變化量△S與△M值的比值；由比值和步驟2)中的△M值計算出△S；

4)將標準件的齒厚減去△S值，得到被測漸開線內花鍵的剩余齒厚，獲得被測漸開線內花鍵的磨損情況。